權(quán)wei性

突破性

創(chuàng)新性

• Litesizer DLS 701：納米顆粒粒徑、Zeta電位、分子量、顆粒濃度測量儀器，突破性cmPALS技術(shù)將Zeta電位測量提升到了新的水平

• SurPASS 3：固體表面Zeta電位測量的黃金標(biāo)準(zhǔn)，用于膜材料、半導(dǎo)體、高分子、生物材料等領(lǐng)域的Zeta電位、等電點(diǎn)測量

? 免費(fèi)獲得所選儀器（每臺儀器各1名獲獎?wù)撸?/p>

? 在國際網(wǎng)絡(luò)研討會展示研究成果

? 入選安東帕全球成功案例，激勵更多科研同仁

根據(jù)研究方向選擇適合的分析利器

• Litesizer DLS XX1

• SurPASS 3
  

內(nèi)容必須清晰闡述以下三點(diǎn)：

• 研究項目概述：簡明介紹您的研究背景、目標(biāo)和當(dāng)前面臨的挑戰(zhàn)。

• 儀器的影響：重點(diǎn)說明 Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3 將如何具體地助力您的工作？例如，它能解決什么現(xiàn)有技術(shù)無法解決的難題？或?qū)槟难芯繋砟男┬碌臋C(jī)遇？

• 技術(shù)獲益分析：詳細(xì)說明您期望從儀器的獨(dú)特技術(shù)（如Litesizer XX1的cmPALS 或 SurPASS 3 的流動電位測量技術(shù)）中獲得哪些具體、可量化的益處。

• 截止日期2026年3月31日

1. 科學(xué)價值

• 項目是否針對重要的科學(xué)問題或技術(shù)挑戰(zhàn)？

• 研究構(gòu)想是否具有原創(chuàng)性和新穎性？

• 是否有可能推動該領(lǐng)域的知識邊界或技術(shù)進(jìn)步？

2. 項目可行性

• 申請?zhí)岚甘欠癯浞智揖珳?zhǔn)地闡述了所選儀器（Litesizer DLS XX1 或 SurPASS 3）在解決研究難題中的關(guān)鍵作用？

• 項目計劃是否切實(shí)可行，儀器的技術(shù)特性是否與研究目標(biāo)高度匹配？

3. 潛在影響力

• 研究成果可能對學(xué)術(shù)界、工業(yè)界或社會產(chǎn)生何種積極影響？

• 申請材料是否邏輯清晰、重點(diǎn)突出，在一頁A4紙內(nèi)有效地傳達(dá)了核心思想？

通過三個維度對所有提交的材料進(jìn)行評估，確保對每個申請?zhí)岚高M(jìn)行公平且全面的評估。

• 流動電位測量技術(shù)業(yè)界

• 精準(zhǔn)表征固體材料、膜和涂層

• 材料科學(xué)、膜技術(shù)研究的理想伙伴