奧林巴斯 近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W

從380nm~1050nm的可視光至近紅外實現(xiàn)大范圍波長區(qū)域中的分光測定

奧林巴斯 近紅外顯微分光測定儀 USPM-RU-W可以高速&高精細地進行可視光區(qū)域至近紅外區(qū)域的大范圍波長的分光測定。由于其可以很容易地測定通常的分光光度計所不能測定的細微區(qū)域、曲面的反射率，因此適用于光學元件與微小的電子部件等產品。

測定反射率

測定以物鏡聚光的Φ17~70μm的微小點的反射率。

測定膜厚

活用反射率數(shù)據(jù)，測定約50nm~約10μm的單層膜、多層膜的膜厚。

測定物體顏色

根據(jù)反射率數(shù)據(jù)顯示XY色度圖、L*a*b*色度圖及相關數(shù)值。

多樣化應用

通過測定球面、非球面的鏡片、濾鏡、反射鏡等光學元件的反射率，進行涂層評價、物體顏色測定、膜厚測定。

數(shù)碼相機鏡片  /投影儀鏡片 / 眼鏡片

適用于LED反射鏡、半導體基板等微小電子部件的反射率測定、膜厚測定。

LED包裝    /半導體基板

適用于平面光學元件、彩色濾鏡、光學薄膜等的反射率測定、膜厚測定、透過率測定。

液晶彩色濾鏡       /光學薄膜

適用于棱鏡、反射鏡等45度入射產生的反射率測定。

棱鏡    /反射鏡    

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