SR全光譜反射式膜厚測量儀另有大型膜厚量測儀，針對Thin-Film Solar Cell及TFT-LCD的客制化應(yīng)用機(jī)型

SR全光譜反射式膜厚測量儀特點(diǎn)：

由橢圓儀校正
量測色度坐標(biāo)
量測時(shí)間1-3s ，精確度高
國內(nèi)自行研發(fā)，價(jià)格合理
量測膜厚（N.K)值 .量測穿透率（T%）.反射率（R%）
FFT for very thick layer (up to 50 um)

致東光電奉行“以人為本”的理念，延攬經(jīng)驗(yàn)豐富、資質(zhì)優(yōu)良、充滿活力的人才，與客戶的需求緊密結(jié)合，為其提供而可靠的加值型服務(wù)。“客戶的滿意是我們的目標(biāo)”，致東光電遵循“高機(jī)動性、高效率、高行動力”的三大方針，目前我們的客戶已經(jīng)遍及整個(gè)IC、TFT-LCD、LED及Solar cell等學(xué)術(shù)及工業(yè)相關(guān)領(lǐng)域，并廣泛得到客戶的認(rèn)同和喜愛。

我司主營橢偏儀/橢圓偏振儀、反射儀、D8反射儀、膜厚量測儀、太陽能絨面反射儀,紅外光譜儀,其它自動化儀器設(shè)備,光時(shí)域反射儀OTDR,近紅外光譜儀,太陽光模擬器/太陽能模擬器,便攜式光譜儀,四探針測試儀/四探針系統(tǒng)等