Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡
| 參考價 | ￥10000000-￥15000000 |
具體成交價以合同協(xié)議為準
- 公司名稱 賽默飛電子顯微鏡
- 品牌FEI/賽默飛
- 型號
- 所在地上海
- 廠商性質生產(chǎn)廠家
- 更新時間2025/10/31 14:16:02
- 訪問次數(shù) 2441
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- 【電池檢測】鋰離子電池的多尺度三維成像方案02月21日
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 700萬-1500萬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 場發(fā)射 | 應用領域 | 化工 |
Helios DualBeam™掃描電子顯微鏡介紹
一直以來，Helios NanoLab 都綜合采用了 FEI 的電子和離子光學系統(tǒng)、配件和軟件，能夠為納米量級研究提供強大的解決方案。對于從事納米技術前沿研究的科學家，Helios NanoLab 能讓他們拓展研究邊界，為材料研究開辟新的天地。
借助價值的亞納米 SEM 成像技術、S/TEM 超薄樣本制備能力以及精確的原型設計功能，科學家能夠將 Helios NanoLab 當作理想的研究伴侶，為未來的科技進步開發(fā)創(chuàng)新的新材料和納米量級器件。
Helios NanoLab 的材料科學應用
在材料科學領域，研究人員面臨的挑戰(zhàn)是持續(xù)改善目前制造的材料和設備的質量。為了實現(xiàn)技術進步，在納米量級了解結構和成分細節(jié)至關重要。Helios NanoLab 設計用來以低至亞納米量級的分辨率提供多尺度、多維度洞察，讓研究人員能夠觀測樣本最微小的細節(jié)。Helios NanoLab 還可為原子分辨率 S/TEM 成像迅速制備最高質量的樣本。此外，如果研究工作包括開發(fā) MEMS 或 NEMS 器件，也可配備 Helios NanoLab 打造全功能原型。
Helios NanoLab 的電子工業(yè)應用
Helios NanoLab 是一款極其靈活的平臺，既能以很高的效率制備 TEM 樣本，又能開展高性能低電壓成像以分析高級邏輯和存儲器件。Helios Nanolab 具有大型和小型樣本室兩個配置，效率高，并且是面向實驗室和近生產(chǎn)環(huán)境的低每樣本成本半導體分析工作流的關鍵組成部分。
Helios NanoLab 的自然資源應用
地質學家和礦藏工程師可以使用 Helios NanoLab 技術對鉆屑和微芯開展二維和三維巖石表征。它利用的 DualBeam 技術特色，博采 FIB(聚焦離子束)銑削和 SEM(掃描電子顯微鏡)分析之長。借助自動化序列樣本銑削和成像功能，客戶可以創(chuàng)建二維序列圖像，進而開展三維容積重建。根據(jù)這些數(shù)據(jù)，客戶可以在微米至納米量級別觀測和量化孔隙網(wǎng)絡等紋理。
Helios NanoLab 的生命科學應用
要想在三維背景下了解生物事件，就必須采用專用的成像解決方案，而且這些成像解決方案應能以很高的分辨率呈現(xiàn)極小的細節(jié)，從而揭示出復雜網(wǎng)絡的超微結構和空間結構。Helios NanoLab 具有 SEM 性能和可靠、精確的 FIB 切片能力，還配備了高精度壓電工作臺，堪稱小型 DualBeam 平臺的之選。出色的成像能力，輔以透鏡內和柱內檢測器提供的高對比度檢測技術，能夠實現(xiàn)真正對比度。
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