三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡
| 參考價(jià) | ￥212800.00 |
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
- 公司名稱 美譜勒科技（上海）有限公司
- 品牌MITUTOYO/日本三豐
- 型號
- 所在地上海市
- 廠商性質(zhì)代理商
- 更新時(shí)間2025/6/6 14:11:16
- 訪問次數(shù) 1164
產(chǎn)品標(biāo)簽
規(guī)格
| WLI-Unit白光干涉/8000μm/4nm | 212800.00元 | 55 件可售 |
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 文體,電子/電池,道路/軌道/船舶,電氣 |
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三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ， 三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨
三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ， 三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨
產(chǎn)品特點(diǎn)與優(yōu)白光干涉光學(xué)顯微
● 實(shí)現(xiàn)非接觸式3D表面形狀測量和輪廓測量
可利用白光干涉原理實(shí)現(xiàn)非接觸式高精度細(xì)微表面性狀測量
（例如：3D形狀測量、3D粗糙度測量）
● 不依賴于光學(xué)倍率的高度測量精度
即使是低倍率鏡頭，也可使用Z向高分辨力進(jìn)行測量
● 高縱橫比測量
不依賴于光學(xué)系統(tǒng)的NA進(jìn)行檢測，支持高縱橫比形狀測量
● 抗干擾震動(dòng)的高穩(wěn)定性
● 小型輕便
三豐WLI-Unit白光干涉光學(xué)單元顯微鏡 ， 三豐 WLI-Unit-4nm非接觸式3D表面形狀測量輪廓測量顯微鏡原廠發(fā)貨
產(chǎn)品陣容
型號 Z向移動(dòng)范圍 Z向分辨力
WLI-Unit-003 8000μm -
WLI-Unit-005 8000μm 4nm
WLI-Unit-010 8000μm 4nm
采購中心
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