1.熒光光譜儀基體效應(yīng)

　　基體效應(yīng)包括吸收效應(yīng)及增強(qiáng)效應(yīng)兩種效應(yīng)。

　　吸收效應(yīng)包括基體對(duì)入射X射線的吸收及對(duì)熒光X射線的吸收。因?yàn)橛萌肷鋁射線激發(fā)樣品時(shí)，它不只是作用于樣品表面而且能穿透一定的厚度進(jìn)入樣品內(nèi)部，同樣，樣品內(nèi)部分析元素產(chǎn)生的熒光X射線，也必須穿過(guò)一定厚度的樣品才能射出。顯然，在穿透過(guò)程中，這兩種X射線都會(huì)因基體元素的吸收而使其強(qiáng)度減弱，入射X射線強(qiáng)度的減弱會(huì)影響對(duì)分析元素的激發(fā)效率，而X射線熒光強(qiáng)度的降低則直接影響分析度。

　　若入射X射線使某基體元素激發(fā)所產(chǎn)生的熒光X射線的波長(zhǎng)稍短于分析元素的吸收邊，它便會(huì)使分析元素ipA發(fā)產(chǎn)生二次熒光X射線，從而使分析元素的熒光X射線強(qiáng)度增強(qiáng)，這就是墓體的增強(qiáng)效應(yīng)。

　　2.熒光光譜儀不均勻效應(yīng)

　　不均勻效應(yīng)系指樣品顆粒大小不均勻及樣品表面光潔度對(duì)熒光X射線強(qiáng)度的影響。對(duì)于粉末樣品，大顆粒吸收效應(yīng)強(qiáng)，小顆粒吸收效應(yīng)弱，因此，要求顆粒粒度盡量小一些，以減少對(duì)X射線的吸收。測(cè)員短波X射線時(shí)，一般要求粒度在250目以上，‘測(cè)量波長(zhǎng)大于0.2nm的長(zhǎng)波x射線時(shí)，則要求粒度在400目以上。

　　固體塊狀試樣的喪而一定要磨平拋光，對(duì)粉末試樣則要求壓實(shí)并使表面平滑。粗糙表面會(huì)使熒光X射線的強(qiáng)度明顯下降。測(cè)量短波X射線時(shí)，要求光潔度在1005m左右，測(cè)量長(zhǎng)波X射線時(shí)，光潔度為20-50Mm.