低溫原子力顯微鏡LT-AFM/MFM 是一款免對準原子力顯微鏡系統(tǒng)，配備 1310 nm 光纖干涉儀，噪聲水平為 15 fm/√Hz，工作溫度范圍為 20 mK–300 K，磁場可達 16 T。
其免對準設計使操作更加簡便。光纖干涉儀通過光纖電纜將光引導至懸臂末端并測量其撓曲，在 4 K 時可實現(xiàn) 10 nm 磁分辨率。帶有三凸點的對準芯片兼容商用懸臂，免除用戶進行光學對準的需求。
LT-AFM/MFM 支持多種成像模式，包括掃描霍爾探針顯微、磁力顯微、電力顯微、開爾文探針力顯微及導電原子力顯微。該設計可根據不同低溫恒溫器的尺寸進行定制。
顯微鏡頭部由兩個同心壓電管組成：內管用于掃描，外管用于樣品定位。掃描壓電管包含四象限電極和用于懸臂振動的激振壓電元件，可按需提供三種配置選項。
樣品進給采用粘滑運動方式，Z 軸行程為 10 mm，XY 方向行程為 ?3 mm，靈敏度為 50 nm。電子信號由 LT-AFM/MFM 電子模塊通過 BNC 輸出，經 LEMO 接口傳輸至顯微鏡。
掃描頭選項超大面積200×200×7.2 μm @ 300 K
50×50×4.8 μm @ 77 K
30×30×2.4 μm @ 4.2 K
大面積150×150×7 μm @ 300 K
36×36×1.8 μm @ 77 K
18×18×0.8 μm @ 4.2 K
標準面積52×52×4.8 μm @ 300 K
14×14×1.2 μm @ 77 K
6×6×0.5 μm @ 4.2 K
超低噪聲 LT-AFM（配備法布里–珀-羅-干涉儀）新集成的光纖法布里–珀-羅-干涉儀可在 4–300 K 范圍內工作。采用多層介質反射鏡鍍膜光纖，實現(xiàn)了 1 fm/√Hz 的噪聲水平，理論散粒噪聲極限為 0.51 fm/√Hz。
腔長可調，光纖可通過集成在壓電管掃描器上的 2 mm 行程壓電納米定位器靠近懸臂。該納米定位器在更換懸臂時還能將光纖停放到安全位置。
掃描頭選項超大面積200×200×7.2 μm @ 300 K
50×50×4.8 μm @ 77 K
30×30×2.4 μm @ 4.2 K
大面積150×150×7 μm @ 300 K
36×36×1.8 μm @ 77 K
18×18×0.8 μm @ 4.2 K
標準面積52×52×4.8 μm @ 300 K
14×14×1.2 μm @ 77 K
6×6×0.5 μm @ 4.2 K
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