近期有ICP-OES的用戶向小編求助，其使用某品牌ICP-OES測試Na時，經常會受到基體中Ba的譜線干擾，導致無法準確測試Na，甚感苦惱。
      細聊之后發(fā)現，該品牌ICP-OES上出現的Ba589.612nm對Na589.592nm的光譜干擾，是該品牌儀器上一個普遍的問題，其官方文獻及軟件庫中均有提及。

這個干擾對用戶的影響很大，Na可用譜線非常少，如588.995nm和589.592nm。但由于588.995處受Ar線干擾，所以589.592nm幾乎是唯一選擇。對很多行業(yè)都有影響，如環(huán)境，新能源，材料。尤其是新能源行業(yè)，其正極材料中Na的含量越來越低，Ba干擾問題越發(fā)凸顯。該品牌會推薦客戶使用數學模型進行校正，但校正結果準確性并不甚理想，尤其當Na含量很低時，會造成很大誤差。面對極高Ba基體樣品時，還會建議客戶使用硫酸根沉淀Ba離子，以消除干擾。

小編進一步使用Plasma Quant 9200 Elite測試1000ppmBa基體中Na含量，并將測試結果匯總如下：

綜上所述，使用Plasma Quant 9200 Elite，可以輕松測試極高Ba基體中低濃度Na含量，且不會受到任何譜線干擾。