EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

第四代同步加速器的革命性的技術(shù)：
EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。

EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

 

1、產(chǎn)品特點(diǎn)：    

       第四代同步加速器的革命性的技術(shù)：

       EIGER2 X CdTe探測(cè)器是為在高能量段需要高分辨率和高幀速率的科學(xué)家設(shè)計(jì)的。單個(gè)像素尺寸僅為75µm，可檢測(cè)的光子能量高達(dá)100 keV。由于死時(shí)間為零，所以每幀之間不會(huì)丟失光子。雙能量閾值可以在兩個(gè)能量段之間做剪影或減少高能量段的背景噪音。第二個(gè)能量鑒別閾值允許你在兩個(gè)能量箱中成像你的樣本，或削減更高的諧波以減少背景。大計(jì)數(shù)速率高達(dá)107光子/秒/像素。EIGER2 X CdTe探測(cè)器性能優(yōu)異且易于集成和操作。

 

2、核心優(yōu)勢(shì)：

       – 量子效率高、能量范圍高達(dá)100KeV

       – 沒(méi)有圖像延遲或余輝

       – 大計(jì)數(shù)速率高達(dá)10⁷光子/秒/像素

       – 兩個(gè)能量閾值

       – 電子門控觸發(fā)

       – 有效面積大

 

3、應(yīng)用領(lǐng)域：

        – x射線衍射(單晶和粉末)

        – 現(xiàn)場(chǎng)和原位技術(shù)

        – 衍射顯微鏡和層析成像

        – 漫散射和對(duì)分布函數(shù)

     

EIGER2 XE CdTe光子計(jì)數(shù)X射線探測(cè)器

 

4、技術(shù)參數(shù)：

EIGER2 X CdTe	9M	16M
探測(cè)器模塊數(shù)量	3 x 6	4 x 8
有效面積：寬x高 [mm2]	233.1 X 244.7	311.1 X 327.2
像素大小 [μm2]	75 x 75
總像素	3108 × 3262 =10,138,296	4148 × 4362 =18,093,576
間隙寬度    垂直/水平[pixels] *每個(gè)模塊中間有一2個(gè)像素的垂直間隙	12 / 38	12 / 38
能量閾值	2
大計(jì)數(shù)率[光子/秒/像素]	107
大幀速率 [Hz]	550	550(20s burst), 400（連續(xù)）
點(diǎn)擴(kuò)散函數(shù)	1 pixel(FWHM)
CdTe厚度[μm]	750
真空兼容性是否可選	否
數(shù)據(jù)格式	HDF5 / NeXus
尺寸（WHD）[mm3]	340 × 370 × 500	400 × 430 × 500
重量 [kg]	41	55
光子能量[keV]	100keV