原位MEMS-TEM-STM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS-TEM-STM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)（非定量力+電+光+加熱）是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構(gòu)建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境...
原位解決方案-高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng)(定量力+電+三維操縱+加熱）同時(shí)集成了力學(xué)測(cè)量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測(cè)量。實(shí)現(xiàn)了...
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡樣品桿預(yù)抽存儲(chǔ)系統(tǒng)（T-station）由內(nèi)置進(jìn)口分子泵組、樣品桿預(yù)抽室及觸摸顯示屏組成。
原位TEM品桿 參考價(jià)：面議
原位TEM品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀測(cè)樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對(duì)樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結(jié)構(gòu)。
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿 參考價(jià)：面議
TEM原位拉伸與360°水平旋轉(zhuǎn)樣樣品桿PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對(duì)材料施加拉力，結(jié)合透射電鏡原位觀察材料結(jié)構(gòu)的變化。
原位MEMS加熱電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位MEMS加熱電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)透射電子顯微鏡是提供在較高時(shí)間分辨率下得到原子級(jí)空間分辨率的實(shí)驗(yàn)手段。
原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊，實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測(cè)量系統(tǒng)，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現(xiàn)1 Bar & 800 ℃的端觀測(cè)條件。
原位STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位STM-TEM力電一體測(cè)量系統(tǒng)PicoFemto透射電子顯微鏡原位TEM-STM測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納...
原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，是在標(biāo)準(zhǔn)外形的透射電鏡樣品桿內(nèi)加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對(duì)單個(gè)納米結(jié)構(gòu)進(jìn)行操縱和電學(xué)測(cè)量
TEM原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
TEM原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng) PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測(cè)量系統(tǒng)，同時(shí)集成了力學(xué)測(cè)量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對(duì)樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量...
原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
MEMS-STM-TEMPicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測(cè)量系統(tǒng)，該產(chǎn)品是一種革命性的原位透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，使研究者可以在透射電子顯微鏡...
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái) 參考價(jià)：面議
原位解決方案-掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)掃描電鏡原位高溫拉伸臺(tái)集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現(xiàn)在掃描電鏡中對(duì)樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗(yàn)。
電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案 參考價(jià)：面議
PicoFemto電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案，將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺(tái)上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對(duì)實(shí)驗(yàn)...
電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案 參考價(jià)：面議
電鏡原位液體-電化學(xué)測(cè)量系統(tǒng)原位解決方案，采用全新的O圈輔助密封設(shè)計(jì)，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問(wèn)題。
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
原位解決方案——光電力一體化系統(tǒng)集成了掃描探針控制單元，可在三維空間內(nèi)對(duì)電學(xué)探針與光纖探針進(jìn)行亞納米級(jí)別精度的操縱與定位。
SEM原位解決方案——SEM納米力測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——SEM納米力測(cè)量系統(tǒng)將納米壓痕儀集成進(jìn)掃描電鏡中，使用戶可以在掃描電鏡中進(jìn)行原位納米壓痕研究。
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——低溫/冷凍真空傳輸系統(tǒng) 360°旋轉(zhuǎn)冷臺(tái)、冷阱 溫度范圍:-60°C to +50℃C最大功率:~45W(12V,3.5A)溫度穩(wěn)定性:±...
SEM原位解決方案——納米探針臺(tái) 參考價(jià)：面議
SEM原位解決方案——納米探針臺(tái)產(chǎn)品實(shí)現(xiàn)了三維空間上的準(zhǔn)確定位， 它具有分辨率高，尺寸緊湊，行程大，操作簡(jiǎn)單，能在真空下使用等優(yōu)點(diǎn)，可應(yīng)于SEM真空腔體內(nèi)完成各...
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15原位拉伸-掃描電鏡基于自主研發(fā)的臺(tái)式掃描電鏡，集成原位拉伸樣品臺(tái)，對(duì)樣品進(jìn)行原位拉伸/壓縮/彎曲的過(guò)程中實(shí)時(shí)觀察樣品表面形貌的變化
ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī) 參考價(jià)：面議
ZEM15臺(tái)式掃描電鏡能譜一體機(jī)采用自主研發(fā)的鎢燈絲電子槍，加速電壓在1-15kV范圍內(nèi)連續(xù)可調(diào)，搭配二次電子探測(cè)器、背散射電子探測(cè)器、集成式oxford能譜儀...
ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡 參考價(jià)：面議
ZEM15臺(tái)式掃描電子顯微鏡速度快，信號(hào)采集帶寬10M，可以在視頻模式下流暢實(shí)時(shí)的顯示樣品。只需鼠標(biāo)就可完成所有操作，不需對(duì)中光闌等復(fù)雜步驟，聚焦消像散后可直接...
ZEM18臺(tái)式掃描電鏡 參考價(jià)：面議
ZEM18臺(tái)式掃描電鏡信號(hào)采集帶寬高達(dá)10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯(cuò)過(guò)每一個(gè)細(xì)節(jié)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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