步進(jìn)電機group_x-lrq-dec_p 參考價:面議
步進(jìn)電機group_x-lrq-dec_p特點:內(nèi)置控制器,易于與其他Zaber 產(chǎn)品銜接;內(nèi)聯(lián)和并聯(lián)雙驅(qū)動,滾珠絲杠和絲杠的配置;可根據(jù)用戶實際需求定制。步進(jìn)電機group_a-lar 參考價:面議
步進(jìn)電機group_a-lar特點:編碼器位置反饋;內(nèi)置控制器;易于與 A-series 和 T-series 產(chǎn)品銜接;可根據(jù)用戶實際需求定制。步進(jìn)電機group_x-lrq-dec 參考價:面議
步進(jìn)電機group_x-lrq-dec內(nèi)置控制器,易于與其他Zaber 產(chǎn)品銜接;內(nèi)聯(lián)和并聯(lián)雙驅(qū)動,滾珠絲杠和絲杠的配置:可根據(jù)用戶實際需求定制。小型傅里葉紅外光譜儀 參考價:面議
小型傅里葉紅外光譜儀(中紅外光譜儀),是一種穩(wěn)固、便攜和高靈敏、高分辨率(≤4cm-1)傅里葉變換光譜儀。光源輻射度測量儀 參考價:面議
光源輻射度測量儀是專門用于測量光源,比如太陽光模擬器發(fā)光光譜能量分布。應(yīng)用于測量連續(xù)或脈沖光源光譜及太陽光模擬器的校驗。氣體分析儀 參考價:面議
氣體分析儀,強大的氣體分析模塊,基于我們強大的4波段分辨率的傅里葉變換紅外光譜和一個小型的5米光路,小體積(0.2升)多次加熱單元。光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng) 參考價:面議
光學(xué)表面質(zhì)量檢測系統(tǒng)是一款革命性的光學(xué)表面 質(zhì)量檢測系統(tǒng),具備高重復(fù)性和準(zhǔn)確性。非接觸式測厚儀 參考價:面議
非接觸式測厚儀采用了短相干光源的邁克爾遜干涉儀原理??蓡未螠y量多層膜,最高可測 20 層。夏克哈特曼傳感器 參考價:面議
夏克哈特曼傳感器集合了干涉儀、光束分析儀、自準(zhǔn)直儀及四象限探測器優(yōu)點于一身,具有測量速度快、精度高、尺寸小巧的特點。干涉儀 參考價:面議
干涉儀:非接觸式技術(shù)檢測拋光平面和球面的精度(功率、不規(guī)則度);測試表面半徑;檢測目標(biāo)傳輸波前畸變(TWD)。Optikos相機測試系統(tǒng)Meridian Starfield 參考價:面議
Optikos相機測試系統(tǒng)Meridian Starfield采用緊湊型高精度設(shè)計,適用于生產(chǎn)線末端相機測試,或在大批量生產(chǎn)中對相機組件進(jìn)行主動校準(zhǔn)。Optikos OpTest®光學(xué)測量與測試系統(tǒng) 參考價:面議
Optikos OpTest?光學(xué)測量與測試系統(tǒng)融合了光學(xué)和光機工程領(lǐng)域的新技術(shù)與創(chuàng)新結(jié)果,由Optikos的工程師專門為鏡頭測試設(shè)計的定制光學(xué)元件、機械部件和...LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀 參考價:面議
LensCheck™系列小口徑鏡頭MTF傳函儀,靈活擴展的平臺能夠應(yīng)對更廣泛的測量 (例如:MTF、EFL、畸變等) 。雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER 參考價:面議
雙折射顯微鏡 EXICOR-MICROIMAGER為學(xué)術(shù)界和工業(yè)界的研究人員提供了評估雙折射的能力。無論是生物材料還是工業(yè)材料。雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS 參考價:面議
雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-SYSTERMS,設(shè)計減去了光學(xué)系統(tǒng)中的移動部件,并避免了在測量角度之間切換。 氦氖激光束被偏振,然后被PEM調(diào)制。雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si 參考價:面議
雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-PV-Si還可測量藍(lán)寶石、碳化硅、硒鋅、鎘等材料。PV-Si鑄錠模型堅固、通用,可容納和測量直徑達(dá)8英寸的500毫米粗錠。各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計 參考價:面議
各向異性測量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計是一個重大的突破,光學(xué)各向異性測量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。Strokes 偏振計 參考價:面議
Strokes 偏振計在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。圓二色性測量系統(tǒng) 參考價:面議
圓二色性測量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選,也不需要在分析過程中清洗試管雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-GEN 參考價:面議
雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng) EXICOR-GEN,液晶基板應(yīng)力分布測量,大型液晶基板應(yīng)力分布測量,應(yīng)力測量。Hinds,ExicorGEN5, ExicorGEN6...雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA 參考價:面議
雙折射(應(yīng)力)測量系統(tǒng)-EXICOR OIA是透鏡、平行面光學(xué)、曲面光學(xué)在正常和斜入角度評估的主要雙折射測量系統(tǒng)。M2測量系統(tǒng) BEAMAGE-M2系列 參考價:面議
M2測量系統(tǒng) BEAMAGE-M2系列獲取一系列光束輪廓測量結(jié)果,以在幾秒鐘內(nèi)自動執(zhí)行光束質(zhì)量進(jìn)行測量。 它配備了大光學(xué)元件,便于對準(zhǔn)和快速測量,是您可以信賴的...位移傳感探測器-QUAD 系列 參考價:面議
位移傳感探測器-QUAD 系列,可用于功率(QUAD-P)和能量(QUAD-E)測量。離散式熱釋電探測器 參考價:面議
離散式熱釋電探測器:有4種尺寸可供選擇:2,3,5和9毫米孔徑,測試箱可用于混合探測器。(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)