JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡（SEM）IT100的測(cè)試范圍：各種固體材料的形貌分析、微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)，樣品成份的線(xiàn)分布和面分布分析.

JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100

一:測(cè)試范圍：

各種固體材料的形貌分析

微區(qū)化學(xué)成分檢測(cè)

樣品成份的線(xiàn)分布和面分布分析.

 

二:表面分析有哪些:

1. 表面形貌分析

2. 表面成分分析

3. 表面化學(xué)狀態(tài)分析

4. 表面顏色、色差測(cè)試

5. 表面相結(jié)構(gòu)分析

6. 表面應(yīng)力分析

7. 表面粗糙度測(cè)試

8. 表面異物分析

9. 表面失效分析

10.表面處理工藝判斷

三:表面異物分析:

在生產(chǎn)中,表面往往容易被污染、腐蝕、氧化，形成其他異物，一般很難用肉眼分辨，更無(wú)法了解其成分與來(lái)源，必須通過(guò)顯微途徑觀(guān)察分析。中心配備有顯微紅外、放大倍數(shù)從10倍-20萬(wàn)倍的掃描電子顯微鏡和對(duì)固體樣品元素價(jià)態(tài)分析的X射線(xiàn)光電子能譜，可以分別對(duì)不同現(xiàn)象和類(lèi)別的異物進(jìn)行分析。掃描電子顯微鏡可在分子尺度，對(duì)材料微觀(guān)形貌進(jìn)行直接觀(guān)測(cè)，同時(shí)對(duì)微小區(qū)域進(jìn)行X射線(xiàn)能譜測(cè)試，分析其成分組成，X射線(xiàn)光電子能譜能夠?qū)腆w樣品的元素成分進(jìn)行定性、定量或半定量及價(jià)態(tài)分析，廣泛應(yīng)用于元素分析、多相研究、化合物結(jié)果鑒定、富集法微量元素分析、元素價(jià)態(tài)鑒定等。

四:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100?分析儀優(yōu)點(diǎn):
①有較高的放大倍數(shù)，幾萬(wàn)~幾十萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào)；
②有很大的景深，視野大，成像富有立體感，可直接觀(guān)察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu)；
③試樣制備簡(jiǎn)單。 目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置，這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀(guān)察和微區(qū)成分分析，因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器。


五:JEOL捷歐路掃描電子顯微鏡(SEM)IT100核心參數(shù):
背散射電子圖像分辨率   4nm
二次電子圖象分辨率   3nm@30KV
加速電壓    0.5-30kV
放大倍數(shù)    5-300000
儀器種類(lèi)    鎢燈絲