二手 日立 S-3400 掃描電鏡 （SEM）擁有新開發(fā)的電光系統(tǒng)，具有更多的自動化功能，結(jié)合了自動軸功能，包括自動橫梁設置、自動同軸軸。還具有3kV時低加速電壓保證10nm分辨率、實時顯示兩幅圖像、實時全屏圖像等特點。高性能用于觀察和分析材料的表面形貌和微結(jié)構(gòu)。

廣泛應用于材料科學、納米技術(shù)、電子元器件、金屬學、文物考古、鋼鐵制造、生物醫(yī)學和質(zhì)量控制等領域。它可以用于研究材料的微觀結(jié)構(gòu)、形貌表征、顆粒分析、失效分析和質(zhì)量控制等方面。

二手 日立 S-3400 掃描電鏡 主要參數(shù)：

顯微鏡可以操作：

通常（在高真空中），分辨率高達3nm（SE檢測器）或4nm（BSE檢測器）

低電壓（UACC<5kV、UACC<3kV）–分辨率達10nm（SE檢測器）

自然（在低真空中）分辨率達到4nm（BSE檢測器）

加速電壓0.3kV30kV

工作臺（自動五軸）

內(nèi)徑215毫米的工作室可以觀察相對較大的物體

放大倍數(shù)5–300,000倍

圖像內(nèi)存高達5120x3840像素

二手 日立 S-3400 掃描電鏡 特征：

革命性的自動對準功能（自動光束設置、自動孔徑對準等）；

3kV下10nm更好的分辨率；

實時全屏圖像、雙圖像和信號混合；

新開發(fā)的高分辨率靈敏度固態(tài)BSE檢測器；

計算機正心、5軸電動載物臺，傾斜-20/+90度（II型）；

可容納高達80mm的樣品進行元素分析（II型）；

具有幾何形狀的分析樣品室同時容納EDS、WDS和EBSD；

高通量、占地面積小、電力消耗少；

更大的EDS檢測器可加快化學分析速度；

能夠進行低真空模式；

可根據(jù)需要進行濺射鍍膜；

詳細的化學圖，以便更好的分析和更清晰的演示。

該顯微鏡還配備：

Pelier系統(tǒng)冷卻臺。

紅外CCD細胞觀察相機。

E3100臨界點干燥裝置，用于在CO2氣氛中干燥生物制劑。

SC7640型離子除塵器，用于對金屬樣品進行除塵。

HITACHI S-3400N掃描電子顯微鏡是一種功能強大的顯微鏡，在材料科學和工程領域中具有廣泛的應用價值。