FLIR熱像儀是利用紅外探測(cè)器和光學(xué)成像物鏡接受被測(cè)目標(biāo)的紅外輻射能量分布圖形反映到紅外探測(cè)器的光敏元件上，從而獲得紅外熱像圖，這種熱像圖與物體表面的熱分布場相對(duì)應(yīng)。通俗地講紅外熱像儀就是將物體發(fā)出的不可見紅外能量轉(zhuǎn)變?yōu)榭梢姷臒釄D像。熱圖像的上面的不同顏色代表被測(cè)物體的不同溫度。

　　

　　FLIR熱像儀擁有鎖入功能，能夠執(zhí)行檢測(cè)，如NDT、應(yīng)力繪圖，也可用于解析低至1mK的溫差。NDT是一種廣泛采用的無損評(píng)估方式，可用于材料、部件或系統(tǒng)屬性的評(píng)估。熱像儀可通過目標(biāo)激發(fā)和觀測(cè)目標(biāo)表面的熱力差檢測(cè)內(nèi)部缺陷。它是一種有價(jià)值的工具，可用于檢測(cè)復(fù)合材料中是否中空、層離和夾雜水分。

　　

　　FLIR熱像儀通過發(fā)射一個(gè)中波紅外激光信號(hào)到光纖芯中，并通過一個(gè)寬波段的中紅外熱像儀記錄它的側(cè)面散射，科學(xué)家能夠探測(cè)到光纖的缺陷，它是確保光纖將能夠支持高功率激光的關(guān)鍵的一步。

　　

　　裂紋和缺陷的存在改變了材料的熱性能。FLIR熱像儀對(duì)于用非接觸式的遙控的方式檢測(cè)各種類型的材料提供*的檢測(cè)方法，如電子元件和藝術(shù)品，非接觸式的分析方法更為適合。熱量的正確解讀可以揭示材料中的結(jié)構(gòu)變化并且預(yù)防失敗的發(fā)生。