B1S（57744）保護(hù)膜探頭
應(yīng)用
用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷
鍛件、鑄件
金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料
板材、棒材、方形材
容器、機(jī)器零件、殼體

直探頭：
B1S,B2S,B4S,MB2S,MB4S,MB5S,K1G,K2G,K4G,K1N,K2N,K4N,K5N,K5K,K10K,G1N,G2N,G4N,G2KB,G5KB,G5K,G10K,
B1F,B2F,B4F,B5F,MB2F,MB4F,MB5F,MB10F, 

應(yīng)用

用于檢測(cè)簡(jiǎn)單形狀的工件中平行于表面的缺陷

鍛件、鑄件

金屬材料、玻璃、瓷器、陶瓷和塑料

板材、棒材、方形材

容器、機(jī)器零件、殼體

特點(diǎn)

縱波單晶探頭

適合DGS缺陷評(píng)判

性能參數(shù)誤差小，適合高精度檢測(cè)

可更換保護(hù)膜，保護(hù)探頭不被磨損

柔性保護(hù)膜，即使是在粗糙或輕微彎曲的表面上也能很好地耦合

合金壓鑄殼體，堅(jiān)固耐用

用于高溫檢測(cè)時(shí)可加裝高溫延遲塊（定制產(chǎn)品）

022-508-909 測(cè)厚儀（英文版） CL 5 (English)
022-509-102 測(cè)厚儀（中文版） CL 5 (Chinese)
GEIT1480176 超聲波探傷儀 USM GO+ base
GEIT1480179  超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DAC
GEIT1480181 超聲波探傷儀 USM Go+ AWS DGS
GEIT1480180 超聲波探傷儀 USM GO+ ADVANCE
083-500-495 測(cè)厚探頭 DA501 EN
083-500-502 測(cè)厚探頭 DA503 EN
113-552-013 測(cè)厚探頭 DA512
118-140-054 探頭線 KBA-533
113-534-761 測(cè)厚探頭 DA590EN
113-534-769 測(cè)厚探頭 DA590
118-140-120 探頭線 KBA-DA590
118-140-123 探頭線 KBAMJ-DA590
113-527-660 測(cè)厚探頭 ALPHA-2 DFR
113-518-655 測(cè)厚探頭 Mini-DFR
113-526-000  測(cè)厚探頭 ALPHA-2F
113-118-661 測(cè)厚探頭 ALPHA DFR-P
113-544-000 測(cè)厚探頭 CA211A
389-030-290 測(cè)厚探頭 K-pen
022-505-604 探頭線 C-604
0058160 探頭線 CL 331 
 

接觸法探頭

接觸法直探頭, 帶保護(hù)膜

應(yīng)用

•   一般檢測(cè)目的, 簡(jiǎn)單形狀的大零件

•   鍛件, 鑄件

•   板材, 棒材, 方型材

•   容器, 機(jī)器零件, 殼體

•   高溫檢測(cè)時(shí)帶延遲塊

性能特征

•   歐款有可更換膜:

- 在不平整和曲面上增進(jìn)耦合

- 延長(zhǎng)探頭壽命

- 適于DGS缺陷評(píng)定

- 可連接高溫延遲塊

- Lemo 1(B..S) 或 Lemo 00 (MB..S) 連接端口, 標(biāo)準(zhǔn)為側(cè)裝, 頂裝可選

•   美款有三種類型的保護(hù):

- 膜可以在不平整和曲面上增進(jìn)耦合.

- 耐磨帽定期更換可*延長(zhǎng)探頭壽命

- 高溫延遲塊可以實(shí)現(xiàn)  00°F (  00°C)表面檢測(cè).

- BNC 連接端口, 頂裝或側(cè)裝

帶保護(hù)膜探頭—歐洲規(guī)格

B..S 和 MB..S 型

0,5μS/Div 0-4MHz典型波形和頻譜