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A3-SR系列反射式膜厚儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下，還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。此外，還可用于測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內(nèi)。

反射式膜厚測量儀

       A3-SR系列反射式膜厚測量儀可用于測量半導體鍍膜，手機觸摸屏ITO等鍍膜厚度，PET柔性涂布的膠厚等厚度，LED鍍膜厚度，建筑玻璃鍍膜厚度及其他需要測量膜厚的場合。A3-SR可用于測量2納米到3000微米的膜厚，測量精度達到0.1納米。 在折射率未知的情況下，A3-SR還可用于同時對折射率和膜厚進行測量。

       此外，A3-SR還可用于測量樣品的顏色和反射率。樣品光斑在1毫米以內(nèi)。A3-SR進行測量簡單可靠，實際測量采樣時間低于1秒。配合我們的Apris SpectraSys 軟件進行手動測量，每次測量時間低于5秒。Apris SpectraSys支持50層膜以內(nèi)的模型并可對多層膜厚參數(shù)進行測量。Apris SpectraSys 軟件還擁有近千種材料的材料數(shù)據(jù)庫，同時支持函數(shù)型(Cauchy, Cauchy-Urbach,Sellmeier), 物理光學（Drude-Lorentz,Tauc-Lorentz）,混合型（Maxwell Garnett, Bruggeman）EMA 等折射率模型。

       同時，客戶還可以通過軟件自帶數(shù)據(jù)庫對材料，菜單進行管理并回溯檢查測量結果。目標應用：半導體鍍膜,光刻膠玻璃減反膜測量藍寶石鍍膜,光刻膠ITO 玻璃太陽能鍍膜玻璃各種襯底上的各種膜厚，顏色測量卷對卷柔性涂布光學膜其他需要測量膜厚的場合