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適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹
閱讀：1239 發(fā)布時間：2024-11-13適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷設(shè)備介紹
光學分辨率1.8μm/速度檢測！
用于基材和金屬表面的缺陷檢查！
概述
這是使用高分辨率相機和高精度XY平臺的二維檢查裝置。
適用于檢查光學薄膜、片材、觸摸屏等表面劃痕、異物、缺陷。
光學分辨率為1.8μm，可實現(xiàn)高清檢查。
它還可以處理尺寸測量，還可以檢查二維沖壓產(chǎn)品。
特征
自動保存檢測數(shù)據(jù)和圖像
攝像頭像素數(shù)：900萬像素
高光學分辨率（1.8μm）讓您可以清晰地看到精細的檢查點。
非常適合檢查觸摸屏的外圍電極和印刷電路板上的精細布線是否有斷線和短路。
目的
用于檢查觸摸面板、異物等缺陷！
觸控面板周邊電極缺陷檢測
板材表面劃痕及異物檢查
電路板缺陷檢查
系統(tǒng)配置
