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從面板到新材料：DUORES® 面電阻檢測(cè)儀，全場(chǎng)景高精度解決方案
閱讀：88 發(fā)布時(shí)間：2026-3-5一、核心技術(shù)：雙法合一，突破傳統(tǒng)檢測(cè)局限
1. 無(wú)損渦流探頭（非接觸式）
測(cè)量原理：電磁渦流感應(yīng)，零接觸、零損傷
測(cè)量范圍：0.5–200 Ω/□
測(cè)量光斑：φ25 mm
核心價(jià)值：保護(hù)脆弱薄膜、透明涂層、精密面板表面無(wú)劃痕，適合大批量快速篩檢
2. 四探針接觸探頭（高精度式）
測(cè)量原理：經(jīng)典四探針?lè)?，?shù)據(jù)權(quán)1威可溯源
測(cè)量范圍：0.001–4000 Ω/□
針距：3 mm，測(cè)量區(qū)域 9 mm
核心價(jià)值：覆蓋超低阻到高阻全量程，滿足研發(fā)標(biāo)定、質(zhì)量仲裁、精度校準(zhǔn)需求
3. 整機(jī)硬核性能
手持輕量化：主機(jī)約 350 g，單手可操作
自動(dòng)測(cè)量：探頭輕觸 / 放置樣品即自動(dòng)啟動(dòng)
超長(zhǎng)續(xù)航：電池連續(xù)工作 24 小時(shí)
數(shù)據(jù)管理：存儲(chǔ) 50,000 組數(shù)據(jù)，支持 USB 導(dǎo)出
多單位顯示：Ω/□、S/□、膜厚 nm 一鍵切換
二、全場(chǎng)景落地：從面板到新材料，覆蓋全產(chǎn)業(yè)鏈
場(chǎng)景 1：顯示面板行業(yè) —— ITO/TCO 柔性導(dǎo)電膜量產(chǎn)檢測(cè)
前道卷對(duì)卷生產(chǎn)：無(wú)損探頭快速篩檢，不劃傷膜面
后道成品抽檢：四探針探頭高精度復(fù)核
實(shí)際成效：
產(chǎn)品報(bào)廢率從 0.8% 降至 0.1%
檢測(cè)效率提升 3 倍
批次一致性達(dá)標(biāo)率達(dá) 99.5%
場(chǎng)景 2：建筑節(jié)能玻璃 —— LOW?E 鍍膜在線質(zhì)檢
全程使用無(wú)損探頭，輕放即測(cè)
2 秒 / 片，適配高速產(chǎn)線節(jié)拍
實(shí)時(shí)判定合格 / 不合格
實(shí)際成效：良品率達(dá) 99.8%，節(jié)能指標(biāo)穩(wěn)定達(dá)標(biāo)
場(chǎng)景 3：前沿新材料 —— 石墨烯 / 碳納米管 / 納米銀線研發(fā)表征
無(wú)損探頭保護(hù)樣品不被破壞
四探針提供高精度基準(zhǔn)數(shù)據(jù)
直讀膜厚換算值，快速建立工藝曲線
實(shí)際成效：研發(fā)周期縮短 40%，數(shù)據(jù)可直接用于論文與專1利
場(chǎng)景 4：消費(fèi)電子 —— 抗靜電涂層來(lái)料快檢
無(wú)損探頭快速初篩
四探針對(duì)異常品精準(zhǔn)復(fù)核
手持便攜，倉(cāng)庫(kù) / 產(chǎn)線隨處可測(cè)
實(shí)際成效：檢驗(yàn)效率提升 5 倍，不合格來(lái)料有效攔截
三、方案價(jià)值：一臺(tái)設(shè)備，解決全流程檢測(cè)難題
降本增效
一機(jī)替代無(wú)損儀 + 四探針儀兩臺(tái)設(shè)備，采購(gòu)與維護(hù)成本更低。
品質(zhì)保障
無(wú)損保護(hù)高價(jià)值產(chǎn)品，接觸測(cè)量確保精度，雙重保障質(zhì)量。
全場(chǎng)景適配
實(shí)驗(yàn)室研發(fā)、產(chǎn)線全檢、來(lái)料檢驗(yàn)、現(xiàn)場(chǎng)抽檢均可勝任。
數(shù)據(jù)可追溯
大容量存儲(chǔ) + USB 導(dǎo)出，滿足 ISO、IATF 等體系審核要求。
易用易普及
無(wú)需專業(yè)培訓(xùn)，工人快速上手，降低人力成本。