彩色濾光片、光刻膠測(cè)量裝置 LCF SERIES 參考價(jià)：面議
以透過(guò)光譜測(cè)量、色測(cè)量為代表，通過(guò)濃度測(cè)量、膜厚測(cè)量、反射光譜測(cè)量等，可對(duì)應(yīng)彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置
嵌入式膜厚檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
● 采用分光干涉法● 搭載高精度FFT膜厚解析系統(tǒng)（專(zhuān)zhuan利 第4834847號(hào)）● 使用光學(xué)光纖，可靈活構(gòu)筑測(cè)量系統(tǒng)● 可嵌入至各種制造設(shè)備?！?實(shí)時(shí)測(cè)...
小角激光散射儀 PP-1000 參考價(jià)：面議
PP-1000小角激光散射儀，利用小角激光散射法（Small Angle Laser Scattering，簡(jiǎn)稱(chēng)SALS），可以對(duì)高分子材料和薄膜進(jìn)行原位檢測(cè)，...
多通道光譜儀 MCPD-9800 / 6800 參考價(jià)：面議
以最zui高機(jī)型MCPD-9800為首，一共有3種對(duì)應(yīng)12波長(zhǎng)領(lǐng)域的測(cè)量?jī)x。 我們可以根據(jù)客戶(hù)的需求和用途提出最適shi合的方案。 不同評(píng)價(jià)方法對(duì)應(yīng)不同設(shè)備
多樣品納米粒子徑測(cè)試系統(tǒng)·nanoSAQLA 參考價(jià)：面議
nanoSAQLA是一臺(tái)通過(guò)動(dòng)態(tài)光散亂法（DLS法）測(cè)量粒徑（粒徑0.6nm~10um）的裝置。支持從稀薄到濃厚系廣泛濃度范圍內(nèi)的多檢體測(cè)定的新光學(xué)系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了...
粒子徑測(cè)量系統(tǒng) nanoSAQLA（帶AS50） 參考價(jià)：面議
●1個(gè)單元可輕松連續(xù)測(cè)量5個(gè)樣品?！駥?shí)現(xiàn)了在沒(méi)有自動(dòng)進(jìn)樣器的情況下難以實(shí)現(xiàn)的多個(gè)樣品的連續(xù)測(cè)量，也可以通過(guò)改變每個(gè)樣品的條件進(jìn)行測(cè)量?！駱?biāo)準(zhǔn)測(cè)量時(shí)間為1分鐘的高...
分光配光測(cè)量系統(tǒng) GP series 參考價(jià)：面議
●支持長(zhǎng)達(dá) 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測(cè)量●還支持有機(jī)EL和大型顯示器的光分布測(cè)量●可以自動(dòng)控制2軸測(cè)角儀測(cè)量每個(gè)角度的光譜分布，并通過(guò)球帶系數(shù)...
分光輻射照度測(cè)量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
該檢測(cè)器 是一種高性能的分光光度計(jì) ，在光源測(cè)量、反射/透射測(cè)量、過(guò)程測(cè)量等 方面取得 了 多項(xiàng)成果 。 覆蓋從紫外線到可見(jiàn)光和可見(jiàn)光到紅外線的寬波長(zhǎng)范圍
分光干涉式晶圓膜厚儀 SF-3 參考價(jià)：面議
●非接觸式、非破壞性光學(xué)式膜厚檢測(cè)●采用分光干涉法實(shí)現(xiàn)高度檢測(cè)再現(xiàn)性●可進(jìn)行高速的即時(shí)研磨檢測(cè)●可穿越保護(hù)膜、觀景窗等中間層的檢測(cè)●可對(duì)應(yīng)長(zhǎng)工作距離、且容易安裝...
光波場(chǎng)三維顯微鏡 MINUK 參考價(jià)：面議
MINUK是一種可以評(píng)估納米量級(jí)的透明異物和缺陷的設(shè)備，可以單次獲取高度方向的信息，并且可以無(wú)損、非接觸、非侵入性地進(jìn)行測(cè)量。此外，還可以高速掃描任何表面并確定...
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneoSE 參考價(jià)：面議
本產(chǎn)品為粒徑及zeta電位測(cè)量專(zhuān)用裝置。ELSZneoSE選擇了ELSZneo的新功能。 根據(jù)用途，可以根據(jù)需要定制任意數(shù)量的必要功能。
ZETA電位 · 粒徑測(cè)試系統(tǒng)·ELSEneoSE 參考價(jià)：面議
● 可根據(jù)用途增加功能(分子量測(cè)定、粒子濃度測(cè)定、微流變測(cè)定、凝膠網(wǎng)眼結(jié)構(gòu)分析、粒徑多角度測(cè)定)● 可以用標(biāo)準(zhǔn)流動(dòng)池連續(xù)測(cè)量粒徑和zeta電位● 可以測(cè)量從稀薄...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)·ELSZneo 參考價(jià)：面議
ELSZ series的最zu高級(jí)機(jī)型，除了在稀薄溶液~濃厚溶液中進(jìn)行zeta電位（Zeta Potential，ζ-電位）和粒徑測(cè)定之外，還能進(jìn)行分子量測(cè)定的...
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量·ELSZ-2000ZS 參考價(jià)：面議
●可測(cè)量稀薄溶液~濃厚溶液的ZETA電位和粒徑，并可進(jìn)行分子量測(cè)量的檢測(cè)裝置?！襁m用于粒徑測(cè)量范圍（0.6nm~10um）,濃度范圍（0.00001%~40%）...
OPTM series 嵌入型 參考價(jià)：面議
利用顯微微分光膜厚計(jì)OPTM series的高精度、微小光點(diǎn)，在線提供制作晶片圖案后的微小區(qū)域測(cè)量等膜厚信息。
Load Port對(duì)應(yīng)膜厚測(cè)量系統(tǒng) GS-300 參考價(jià)：面議
●Φ支持到300mmEFM單元備用端口的集成●實(shí)現(xiàn)嵌入在晶片中的布線圖案的圖案對(duì)齊●支持半導(dǎo)體工藝的高吞吐量要求●支持槽口對(duì)齊功能●小尺寸規(guī)格●高精度自動(dòng)校準(zhǔn)單...
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體晶圓缺陷檢測(cè)儀利用亮場(chǎng)和暗場(chǎng)顯微成像技術(shù)，通過(guò)自動(dòng)化的圖像捕捉以及人工智能分析工具，為晶圓表面缺陷的檢測(cè)提供了快速且高效的解決方案。
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
ZETA電位 · 粒徑 · 分子量測(cè)試系統(tǒng)可測(cè)量濃度低的溶液～濃度高的溶液的ZETA電位?粒徑及分子量。
光電流測(cè)試 參考價(jià)：面議
光電流測(cè)試是一種用于測(cè)量器件或材料的光電性能的測(cè)試方法，主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件、光電器件、太陽(yáng)能電池等領(lǐng)域。
高光譜測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
高光譜測(cè)試系統(tǒng)基于offner型的凸面光柵分光系統(tǒng)，其原理新穎，相比較其他分光系統(tǒng)具有光學(xué)相對(duì)孔徑大、色散線性度好、結(jié)構(gòu) 緊湊和圖像成像質(zhì)量佳等優(yōu)點(diǎn)。
超快瞬態(tài)吸收顯微成像系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
該系統(tǒng)設(shè)計(jì)與奧林巴斯倒置顯微鏡和高速CMOS相機(jī)相結(jié)合，用于檢測(cè)微納樣品的光激發(fā)載流子動(dòng)力學(xué)可視化過(guò)程；同時(shí)具備微區(qū)瞬態(tài)反射（透射）光譜和動(dòng)力學(xué)測(cè)試功能。系統(tǒng)同...
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
太陽(yáng)能電池量子效率測(cè)試系統(tǒng)?Oriel 的 QEPVSI-b 是用于測(cè)量量子效率 （QE）（也稱(chēng)為入射光子到電荷載流子效率 （IPCE）） 的預(yù)配置而靈活的解決...
太陽(yáng)光模擬器 參考價(jià)：面議
Oriel Sol3A 太陽(yáng)光模擬器采用單燈設(shè)計(jì)，滿(mǎn)足全部 3A 級(jí)性能標(biāo)準(zhǔn)，而不影 響其 1 個(gè)太陽(yáng)光強(qiáng)輸出功率。按照慣例，AAA 級(jí)的第.一個(gè)字母代表光譜匹...
光電流成像 參考價(jià)：面議
光電流成像是一種用于表征材料或器件的光電特性的成像技術(shù)。該技術(shù)通過(guò)在器件或材料表面照射光源，并測(cè)量其產(chǎn)生的電流信號(hào)，來(lái)獲得材料或器件的空間分布信息。(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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