米氏（MIE）理論是考慮了物質對光的吸收與各種電磁作用來計算散射強度的理論。因此折射率是米氏計算一項*的參數(shù)。通常在軟件設計中要計算幾種折射率不同的模型來適用于不同物質的顆粒。因此折射率產生于測試之前，而不是顆粒粒度測量的結果。

因此使用粒度儀測試，首先需要確定樣品的折射率，一般的用戶根本不知道要測量的產品折射率的準確參數(shù)（據(jù)檢索目前尚無一種儀器可以準確測量粉末的折射率，折射率表中表示的只是物質的折射率，而非粉末的折射率，二者之間有很大差別），因此只好隨意的選一種用來計算，如果計算不滿意再換一種。如此的折射率準確程度有多大，難道不令人懷疑嗎？

實際上研究結果表明，顆粒粒度測量的準確度，不僅與折射率有關，而且與顆粒形狀，顆粒表面狀態(tài)，顆粒濃度都有關。而后二者影響程度并不小于前者，為此，微納公司的儀器不僅準備了16種不同折射率的模型，而且為顆粒粒度的綜合校準提供了專門的軟件。為了對用戶負責，不至于給用戶造成錯覺，微納公司在測試報告中沒有表明折射率，原因是折射率并不能準確表示樣品的特性。只不過是計算中使用的一種模式代號而已。

有人說：測試報告中沒有折射率就不是米氏理論，這種說法是不全面的。有的儀器中采用的是弗朗和費衍射理論（如德國的森帕泰克公司），當然不需要折射率。有的儀器公司雖然采用了米氏理論但是由于對用戶負責的考慮不愿意標明折射率。顯然微納公司屬于后者。