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當(dāng)前位置：無(wú)錫駿展儀器有限責(zé)任公司>>泰勒霍普森TAYLOR HOBSON粗糙度儀>>泰勒霍普森粗糙度輪廓儀>> 泰勒霍普森輪廓儀代理
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)
品 牌TaylorHobson/英國(guó)泰勒霍普森
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地無(wú)錫市
更新時(shí)間：2025-06-02 08:12:44瀏覽次數(shù)：1259次
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| 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 環(huán)保,生物產(chǎn)業(yè),石油,制藥/生物制藥,綜合 |
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CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀簡(jiǎn)介
CCI HD 是一種非接觸式光學(xué) 3D 輪廓儀，具有測(cè)量薄膜和厚膜的功能。 它采用享有新型關(guān)聯(lián)算法，來(lái)查找由我們的精密光學(xué)掃描裝置產(chǎn)生的干涉圖的相干峰和相位。 這種新型的 CCI HD 整合了世界專業(yè)的非接觸式尺寸測(cè)量功能和專業(yè)的厚薄膜測(cè)量技術(shù)。
CCI HD 除了提供尺寸和粗糙度測(cè)量功能，還可以提供兩種類型的膜厚測(cè)量。 近年來(lái)厚膜分析被用于研究厚度至約 1.5 微米的半透明涂料；測(cè)量的厚度限制取決于材料的折射率和標(biāo)的物的 NA。 測(cè)量較薄的涂層被證實(shí)為難度更高?，F(xiàn)在通過(guò)干涉測(cè)量法可以研究厚度至 50 納米（同樣取決于折射率）的薄膜涂層。 采用這種新型方法，可以在單次測(cè)量中研究膜厚、界面粗糙度、針孔缺陷以及薄涂層表面的剝離等特性。
CCI HD 非接觸式光學(xué)3D輪廓儀優(yōu)勢(shì)
2048 x 2048像素陣列，視場(chǎng)廣，高分辨率
全量程0.1埃的分辨率
適用于0.3% - 100%的表面反射率
RMS 重復(fù)精度<0.2埃，階躍高度重復(fù)精度<0.1%
多語(yǔ)言版本的64位控制和分析軟件
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