HAST高壓加速老化試驗箱產(chǎn)品簡介：

HAST/HALT試驗箱適用于IC封裝，半導體，微電子芯片，磁性材料及其它電子零件進行高壓、高溫、不飽和/飽和濕熱、等加速壽命信賴性試驗，使用于在產(chǎn)品的設計階段，用于快速暴露產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)。測試其制品的密封性和老化性能。

HAST CHAMBER 又稱為超加速壽命試驗機,是用于調(diào)查分析何時出現(xiàn)電子元器件和機械零件的摩耗和使用壽命的問題的試驗設備，其目的是提高環(huán)境應力與工作應力、加快試驗過程縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗時間。廣泛用于 PCB、LCD Board、電池、電容、電阻、IC 半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件及其它電子零件之高溫、高濕、高壓等信賴性試驗等行業(yè)。

高壓加速老化試驗箱采用最新優(yōu)化設計，美觀大方、做工精細，對應 IEC60068-2-66 條件，具有直接測量箱內(nèi)溫濕度的干、濕球溫度傳感器；具有緩降壓、排氣、排水功能，控制避免試驗結(jié)束后壓力溫度的急變，保證試驗結(jié)果的正確。

UHAST未飽和高壓蒸汽試驗箱試驗標準：

GB/T2423.40-2013電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分：試驗方法Cx：不飽和高壓蒸汽的恒定濕熱

IEC60068-2-66-1994環(huán)境試驗.第2-66部分：試驗方法.試驗Cx：穩(wěn)態(tài)濕熱

JESD22-A100循環(huán)的溫度和濕度偏移壽命

JESD22-A101穩(wěn)態(tài)溫度，濕度/偏壓，壽命試驗（溫濕度偏壓壽命）

JESD22-A102高壓蒸煮試驗（加速抗?jié)裥詽B透）

JESD22-A108溫度、偏置電壓和工作壽命

JESD22-A110 HAST高加速溫濕度應力試驗

JESD22-A118溫濕度無偏壓高加速應力實驗UHAST（無偏置電壓未飽和高壓蒸汽）

UHAST未飽和高壓蒸汽試驗箱

◆內(nèi)膽采用雙層圓弧設計,可以防止試驗結(jié)露滴水現(xiàn)象，從而避免產(chǎn)品在試驗過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗結(jié)果。

◆采用高效真空泵，使箱內(nèi)達到最佳純凈飽和蒸汽狀態(tài)。

◆采用7寸真彩式觸摸屏，擁有250組12500段程序，具有USB曲線數(shù)據(jù)下載功能，RS-485通訊接口。

◆汽車級硅膠整體密封條，氣密性好，耐用。

◆全自動補水功能,前置式水位確認。

◆采用干濕球傳感器直接測量(控制模式分為：干濕球、不飽和、濕潤飽和等3種模式