會(huì)員.png)
3
當(dāng)前位置：廣東森德儀器有限公司>>分析儀器>>輝光放電質(zhì)譜>> Element GD Plus輝光放電質(zhì)譜
輝光放電質(zhì)譜
ELEMENT GD集中了輝光放電和高分辨質(zhì)譜的優(yōu)勢(shì)，在以下方面有杰出表現(xiàn)：
·樣品測(cè)試通量高：ELEMENT GD離子源和樣品夾的設(shè)計(jì)使可縮短換樣和分析時(shí)間，顯著提高生產(chǎn)率；
·檢測(cè)器線性范圍寬：檢測(cè)器線性范圍達(dá)12個(gè)數(shù)量級(jí)，可一次掃描同時(shí)檢測(cè)基體和痕量元素組成；
·具有固定寬度的低、中、高分辨率狹縫，采用高分辨率可直接分析有質(zhì)譜干擾的同位素。
GD-MS 技術(shù)可用于分析導(dǎo)體和非導(dǎo)體材料，其方法的穩(wěn)健性確保了不同樣品分析時(shí)具備相同程度的靈敏度和數(shù)據(jù)質(zhì)量。借 助于專門的制樣和分析流程，可輕松完成低熔點(diǎn)金屬（例如鎵）的測(cè)試。上述優(yōu)勢(shì)使得 GD-MS 成為可靠的金屬標(biāo)分析標(biāo)準(zhǔn)。
Element GD Plus GD-MS 廣泛服務(wù)于高純材料制造商及其工業(yè)客戶，諸如：
航空航天 - 鎳超合金、涂層和擴(kuò)散層深度剖面
微電子 - 銅、氧化鋁粉末、濺射靶材
可再生能源 - 硅塊、晶圓、太陽(yáng)能電池
醫(yī)療 / 制藥 / 食品 - 不銹鋼、合金
核工業(yè) - 鈾、核燃料
輝光放電質(zhì)譜
杰出的分析速度、靈敏度和準(zhǔn)確度
Element GD Plus GD-MS 作為當(dāng)今前沿的分析技術(shù)，為固體樣品分析 提供了高通量測(cè)試所需的分析速度、靈敏度以及準(zhǔn)確度。 專門設(shè)計(jì)的樣品夾，旨在確保操作簡(jiǎn)單、換樣快速，適用于常規(guī)操作和 高通量測(cè)試。
高通量常規(guī)分析 Element GD Plus GD-MS
離子源及樣品夾非設(shè)計(jì)十分便于 更換樣品，利于常規(guī)操作和高通量測(cè)試。
制樣簡(jiǎn)單
巧妙而簡(jiǎn)單的輝光放電離子源設(shè)計(jì)縮短了換樣時(shí)間。
樣品本身置于真空室之中，消除樣品和 GD 放電池之間 泄露風(fēng)險(xiǎn)。
樣品可以快速便捷地從離子源移除、取下、換樣、重新裝回離子源，之后可進(jìn)行下一次測(cè)量。離子源室的開啟和關(guān)閉可全自動(dòng)完成。
