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產(chǎn)品體系:弱堿性體系,采用高純度膠體二氧化硅(SiO?)作為研磨顆粒,不含TMAH,對EHS無害;
選擇性:SiO?/Si?N?選擇性>50:1,具備ji強的氮化硅停止效應,可進一步在鎢、鈷、多晶硅上實現(xiàn)停止;
稀釋比例:高濃縮配方,可1:3–1:5稀釋使用,大幅降低使用成本;
適配性:適配AMAT、Ebara、Lam等主流CMP設(shè)備,兼容IC1000、Suba IV等常規(guī)拋光墊;
核心用途:專為STI淺槽隔離制程設(shè)計,用于xian進邏輯與存儲器的前端氧化硅平坦化。
氮化硅強停止,終點精準:在氮化硅上具備穩(wěn)定的強停止效應,blanket與圖形晶圓均能可靠停止,過拋余量充足,無氮化硅侵蝕;
硅基超低缺陷,良率保障:采用高純度膠體二氧化硅,相比傳統(tǒng)鈰基漿料,顆粒、劃痕、腐蝕坑等缺陷顯著降低,無金屬離子污染,適配xian進制程潔凈度要求;
高濃縮降本,性價比突出:高固含量濃縮配方,稀釋后使用可降低運輸與存儲成本,槽液壽命長,總擁有成本ji具競爭力;
工藝友好,易集成:弱堿性體系對設(shè)備管路腐蝕性低,維護成本低,去除速率與選擇性可調(diào),適配不同STI結(jié)構(gòu)與工藝節(jié)點;
行業(yè)革新biao桿:推動STI工藝從鈰基轉(zhuǎn)向硅基,成為行業(yè)標準,覆蓋14nm–130nm全節(jié)點,尤其適配FinFET、3D NAND等高良率要求場景。
使用前需根據(jù)現(xiàn)場CMP設(shè)備參數(shù),校準稀釋比例、研磨壓力與轉(zhuǎn)速,確保研磨效果與終點控制穩(wěn)定;
專為氧化硅研磨設(shè)計,僅適配STI淺槽隔離制程,不適合銅、鎢等金屬CMP場景;
避免用于需高選擇性氧化硅/氮化硅的鈰基漿料替代場景,此類需求需選用專用型號;
存儲需置于15℃-25℃、干燥避光環(huán)境,密封保存,避免受潮、暴曬與污染,防止磨粒團聚;
操作時做好防護,避免研磨液接觸皮膚與黏膜,廢棄廢液需按環(huán)保標準妥善處理,同時遵守?;凡僮饕?guī)范。
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