塵埃粒子計(jì)數(shù)器在潔凈度檢測(cè)中確定了最小采樣點(diǎn)數(shù)目后，那么在實(shí)際的檢測(cè)中應(yīng)該如何布置采樣點(diǎn)呢？每個(gè)采樣點(diǎn)位應(yīng)該采幾次樣品呢？接下來(lái)眾瑞小編和大家一同探討下
首先是塵埃粒子計(jì)數(shù)器的采樣點(diǎn)布置如下：
第一，先將整個(gè)潔凈室或潔凈區(qū)分成面積相等的N個(gè)區(qū)域；
第二，在每個(gè)區(qū)域選擇一個(gè)具有代表性的位置作為采樣位置；
第三，在每個(gè)采樣位置上，將塵埃粒子計(jì)數(shù)器的探頭置于工作面高度或其他指定位置，一般高度是0.8m.
另外，關(guān)鍵位置處也可增加采樣點(diǎn)。

具體也可以參考GB/T 16292-2010給出的采樣點(diǎn)布置圖

在塵埃粒子計(jì)數(shù)器確認(rèn)好采樣點(diǎn)位置后，每個(gè)點(diǎn)位需要采樣幾次呢？
在ISO 14644-1標(biāo)準(zhǔn)中，并沒(méi)有明確指出采樣次數(shù)，但是標(biāo)準(zhǔn)中提到每一采樣點(diǎn)的每次采樣量應(yīng)一致，結(jié)合附錄B中給出的粒徑等級(jí)劃分計(jì)算實(shí)例

可以推論出，每個(gè)采樣點(diǎn)的塵埃粒子計(jì)數(shù)器采樣次數(shù)可以多于1次，不同采樣點(diǎn)的塵埃粒子計(jì)數(shù)器的采樣次數(shù)可以不同。跟GB/T 16292-2010的要求是一樣的。