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泰勒粗糙度儀Surtronic DUO分體式信息
Surtronic DUO 是英國(guó)泰勒霍普森（Taylor Hobson）公司推出的一款創(chuàng)新型高級(jí)便攜式表面粗糙度測(cè)量?jī)x，專為滿足現(xiàn)代工業(yè)現(xiàn)場(chǎng)對(duì)高效、靈活及精準(zhǔn)測(cè)量的需求而設(shè)計(jì)。作為傳統(tǒng)手持式粗糙度儀的革新之作，Surtronic DUO 最的特點(diǎn)在于其獨(dú)特的“分體式”架構(gòu)。該儀器由顯示控制單元和驅(qū)動(dòng)測(cè)量單元兩部分組成，兩者之間通過(guò)穩(wěn)定的藍(lán)牙無(wú)線技術(shù)進(jìn)行通訊。這種分離式設(shè)計(jì)極大地拓展了測(cè)量的適用范圍，使得操作人員在面對(duì)深孔、凹槽、大型工件或難以直接接觸的表面時(shí)，只需將小巧的驅(qū)動(dòng)單元置于測(cè)量位置，即可在遠(yuǎn)處的顯示屏上實(shí)時(shí)讀取數(shù)據(jù)，解決了傳統(tǒng)一體式儀器在特殊工況下操作不便的難題。
在功能表現(xiàn)上，Surtronic DUO 延續(xù)了泰勒霍普森一貫的高精度基因。用戶只需按下單個(gè)按鈕，儀器即可自動(dòng)完成測(cè)量過(guò)程，并在其配備的2.4英寸高清彩色LCD屏幕上即時(shí)顯示詳細(xì)的輪廓圖及多種關(guān)鍵粗糙度參數(shù)。它支持包括Ra（輪廓算術(shù)平均偏差）、Rz（十點(diǎn)高度）、Rt（高度）、Rp、Rv以及Rsk、Rku等在內(nèi)的9種常用表面粗糙度參數(shù)，同時(shí)提供5種未濾波參數(shù)選項(xiàng)符合ISO、ASME等國(guó)際主流標(biāo)準(zhǔn)。直觀的圖形化界面不僅讓數(shù)據(jù)讀取一目了然，還便于操作人員快速判斷表面加工質(zhì)量。
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