薄膜厚度均勻性是包裝、電子、光學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)指標(biāo)。直播將現(xiàn)場實(shí)測多種薄膜,展示FTT系列測厚儀的無損、高精度測量能力,并探討厚度偏差對材料阻隔性、光學(xué)性能及生產(chǎn)工藝的影響。
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薄膜厚度均勻性是包裝、電子、光學(xué)等領(lǐng)域的基礎(chǔ)指標(biāo)。直播將現(xiàn)場實(shí)測多種薄膜,展示FTT系列測厚儀的無損、高精度測量能力,并探討厚度偏差對材料阻隔性、光學(xué)性能及生產(chǎn)工藝的影響。
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