一、概述

       RT-V 系列反射透射測量儀，采用進口氘鹵二合一光源，結(jié)合高性能分光光譜儀，可測量獲得紫外到近紅外光譜范圍內(nèi)薄膜的反射率和透射率光譜，并進一步計算獲得樣品色坐標，以及薄膜厚度、光學常數(shù)等信息。

 ■  高性價比穿透率、反射率測量解決方案

 ■  色坐標計算和薄膜特征解析

 ■  模塊化定制，支持在線集成應(yīng)用

二、產(chǎn)品特點

■ 采用高性能進口氘鹵二合一光源，光譜范圍覆蓋可見光到近紅外范圍；

■ 支持全光譜范圍反射率高精度量測，基于薄膜層上下界面反射光干涉原理，輕松解析單層至多層薄膜特征；

三、產(chǎn)品應(yīng)用

       RT系列反射透射測量儀，可實現(xiàn)各種透明、低對比度、高反射率樣品反射率和穿透率光譜快速精準測量，并進一步計算獲得樣品色坐標、薄膜樣品厚度及光學常數(shù)。廣泛應(yīng)用于各種濾光片、濾鏡、鏡頭、玻璃、染色液、薄膜的測量。

技術(shù)參數(shù)

武漢頤光科技有限公司(Wuhan eoptics Technology Co., Ltd.)是國內(nèi)專業(yè)從事橢偏儀以及光學納米測量設(shè)備研發(fā)、制造與銷售的高新技術(shù)企業(yè)，公司由多位具有二十多年偏振光學測量經(jīng)驗的專家聯(lián)合創(chuàng)辦，與華中科技大學緊密合作，是國內(nèi)橢偏光學儀器領(lǐng)域頗具優(yōu)勢的技術(shù)團隊。

公司注冊于武漢東湖國家自主創(chuàng)新示范區(qū)，立足光谷，面向全球，為科研和工業(yè)用戶提供儀器、軟件、服務(wù)等綜合解決方案。

 產(chǎn)品廣泛應(yīng)用于集成電路、半導體、光伏太陽能、平板顯示、LED照明、存儲、生物、醫(yī)藥、化學、電化學、光學鍍膜、光刻材料等眾多領(lǐng)域。