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InFocus κ FDTR是日本ScienceEdge公司推出的一款頻域熱反射顯微鏡，基于創(chuàng)新的頻域熱反射顯微鏡技術（FDTR），可精準測量薄膜、微結構的熱導...

日本ADVANCE RIKO公司新推出低熱阻襯底導熱性評價系統(tǒng)F-CAL，該系統(tǒng)基于ADVANCE RIKO公司60年“熱"相關測量技術的經(jīng)驗開發(fā)，用于評價常規(guī)...

日本ADVANCE RIKO公司專業(yè)從事“熱"相關技術和設備的研究開發(fā)超過60年，現(xiàn)推出全新的商用系統(tǒng)：熱電制冷器件評估裝置（Peltier Evaluatio...

聚合物薄膜厚度方向熱電性能評價系統(tǒng)-ZEM-d主要測量聚合物薄膜厚度方向上的塞貝克系數(shù)和電阻率，可以測量的樣品薄為10μm。

日本Advance Riko公司推出的納米薄膜熱導率測試系統(tǒng)-TCN-2ω是使用2ω方法測量納米薄膜厚度方向熱導率的商用系統(tǒng)。與其他方法相比，樣品制備和測量為簡...

石墨烯/二維材料電學性質(zhì)非接觸快速測量系統(tǒng)-ONYX是款針對石墨烯、半導體薄膜和其他二維材料大面積太赫茲無損表征的測量設備。

激光閃光法熱常數(shù)測量系統(tǒng)-TC-1200RH系統(tǒng)采用符合JIS/ISO標準的激光閃光法測定材料的三個重要熱物理常數(shù)：熱導率（導熱系數(shù)）、熱擴散系數(shù)及比熱容。

大氣環(huán)境下熱電材料性能評估系統(tǒng)F-PEM可以在大氣環(huán)境下，對負荷溫差的熱電材料產(chǎn)生的發(fā)電量和熱流量進行測量，熱電轉(zhuǎn)換效率可以通過大發(fā)電量和熱流量計算出。同時，該...

小型熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)Mini-PEM可測量熱電材料的產(chǎn)生的電量及熱電轉(zhuǎn)換效率η。熱電轉(zhuǎn)換效率η可以通過產(chǎn)生的電量和熱流來獲得（電量是通過四探針法獲得；熱流是...

熱電轉(zhuǎn)換效率測量系統(tǒng)PEM被設計用來測定熱電轉(zhuǎn)換效率η。通過對熱電材料模塊提供溫差500℃，可得到維熱流量Q和發(fā)電功率P max，從而測定熱電轉(zhuǎn)換效率η。

塞貝克系數(shù)/電阻測量系統(tǒng)可實現(xiàn)對金屬或半導體材料的熱電性能的評估。作為ZEM的點，塞貝克系數(shù)和電阻都可以用種儀器來測量。

TEGeta 多功能熱電材料測量系統(tǒng)是德國 PANCO 公司研制的款高精度多功能的熱電性能測量設備。它的工作原理是通過熱端和冷端在材料中形成溫度梯度，然后高精度...