日本日置RM3542C電阻計介紹：

RM3542C是專為片式電阻器/片式鐵氧體磁珠的量產(chǎn)檢測自動化設(shè)備的直流電阻計。通過 ΔR對比工序前后的變化率、BIN功能（最多7個等級）即時判定產(chǎn)品合格與否及等級、跳線電阻測量支持功能加速低電阻分選，實現(xiàn)更嚴(yán)格的檢測，提高檢測效率。此外，通過低應(yīng)力測量與實時監(jiān)控接觸狀態(tài)保障檢測可靠性，以及優(yōu)化量程結(jié)構(gòu)與浮式設(shè)計，實現(xiàn)量產(chǎn)檢測環(huán)境下的穩(wěn)定測量。

產(chǎn)品特點：

升級自動化與品質(zhì)，實現(xiàn)下一代生產(chǎn)檢測

● ΔR（工序?qū)Ρ龋﹥H限RM3542C-3

● BIN（分選•分級）僅限RM3542C-3

● 跳線電阻測量支持功能

● 節(jié)拍×再現(xiàn)性

● 低應(yīng)力測量

● 抗干擾性

三項新功能，推動檢測升級 跳線電阻測量時間最快可縮短76%：跳線電阻測量支持功能

針對跳線電阻（零歐姆電阻）等100 mΩ以下元件的檢測，可跳過耗時的高精度量程。在典型測試條件下，測量時間縮短約76%。

 示例：檢查100mΩ跳線電阻（零歐姆電阻）

 比較器設(shè)置：上限值100 mΩ、下限值50 mΩ

 測量儀設(shè)置：測量速度FAST、延遲（從施加時間開始到測量的時間）：0 ms

 提高分選•分級工藝的效率：BIN功能（僅限RM3542C-3）

根據(jù)多項判定基準(zhǔn)，將測量結(jié)果劃分為0～6等級。實現(xiàn)合格與否判定的同時，簡化了量產(chǎn)檢測必需的分級流程。

 提高檢測可靠性及貼裝工藝檢測判定與傳送處理的速度：ΔR功能（僅限RM3542C-3）

由兩臺測量儀的測量結(jié)果，自動計算并比較電阻值變化率（ΔR），再根據(jù)閾值判定產(chǎn)品合格與否。

 無需借助外部運算，即可在產(chǎn)線內(nèi)完成工序間對比。

 Proven Foundation:可靠性經(jīng)量產(chǎn)現(xiàn)場考驗

靈活的累積時間設(shè)置與量程優(yōu)化，兼顧生產(chǎn)效率與高精度穩(wěn)定測量。

各量程可獨立設(shè)置累積時間，支持從FAST 0.9 ms（最快速度）到SLOW高精度測量。采用3Ω/300Ω等中間量程，改善S/N并降低測量偏差。

 此外，采用浮式設(shè)計，即使在生產(chǎn)線這類強干擾環(huán)境中，也能實現(xiàn)穩(wěn)定測量。

 采用低應(yīng)力測量，防止元件特性發(fā)生變化及受損，實現(xiàn)高可靠性測量。

可將作為測量應(yīng)力主要誘因的施加電壓限制在5V以下。在H/L端子側(cè)交替施加接觸改善電流，修整電極表面的同時，抑制沖擊電流峰值。

兼顧0201及特性易發(fā)生變化的鐵氧體磁珠的檢測需求。

【操作條件】LOW POWER:ON或施加電壓限制功能：ON狀態(tài)下，接觸改善功能設(shè)為脈沖。

接觸改善+接觸狀態(tài)監(jiān)控，大幅降低誤判風(fēng)險，確保高檢測可靠性

通過測量前的接觸改善（17/25/35/50 mA）穩(wěn)定接觸狀態(tài)。檢測過程中，由接觸監(jiān)控功能實時監(jiān)控狀態(tài)，降低因接觸不良導(dǎo)致的誤判及產(chǎn)線停機風(fēng)險。

 為更穩(wěn)定的系統(tǒng)運行與嚴(yán)苛檢測保駕護航

通過預(yù)設(shè)功能可一鍵調(diào)用測量條件，減少換產(chǎn)失誤，保障產(chǎn)線穩(wěn)定啟動。搭載工位錯位預(yù)防功能，可避免兩臺校正設(shè)備在校正或維護后的設(shè)備連接錯誤。此外，設(shè)備支持90天精度保障*，能維持更高測量精度，滿足超窄公差元件的檢測需求。換產(chǎn)再現(xiàn)性、產(chǎn)線穩(wěn)定性、嚴(yán)苛判定力三者兼得。