Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品介紹：

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x的光譜測(cè)量系統(tǒng)讓用戶簡(jiǎn)單快速地測(cè)量薄膜的厚度和光學(xué)常數(shù)，通過對(duì)待測(cè)膜層的上下界面間反射光譜的分析，幾秒鐘內(nèi)就可測(cè)量結(jié)果。當(dāng)測(cè)量需要在待測(cè)樣品表面的某些微小限定區(qū)域進(jìn)行，或者其他應(yīng)用要求光斑小至1微米時(shí)，可以使用Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x。使用先校正顯微鏡的物鏡，再進(jìn)行測(cè)量，即可獲得厚度及光學(xué)參數(shù)值。只要透過Filmetrics的C-mount連接附件，F(xiàn)ilmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x就可以和市面上多數(shù)的顯微鏡連接使用。C-mount上裝備有CCD攝像頭，可以讓用戶從電腦屏幕上清晰地看樣品和測(cè)量位置。

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品特點(diǎn)優(yōu)勢(shì)：

• 結(jié)合顯微鏡的膜厚測(cè)量系統(tǒng)，光斑小至一微米的測(cè)量精度；

• 匹配市面多數(shù)的顯微鏡連接使用；

• 清晰且直觀地觀察樣品并確認(rèn)測(cè)量位置；

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量原理：

當(dāng)入射光穿透不同物質(zhì)的界面時(shí)將會(huì)有部分的光被反射，由于光的波動(dòng)性導(dǎo)致從多個(gè)界面的反射光彼此干涉，從而使反射光的多波長(zhǎng)光譜產(chǎn)生震蕩的現(xiàn)象。從光譜的震蕩頻率，可以判斷不同界面的距離進(jìn)而得到材料的厚度（越多的震蕩代表越大的厚度），同時(shí)也能得到其他的材料特性如折射率與粗糙度。

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品應(yīng)用與膜層范例：

• 薄膜特性：厚度、反射率、透射率、光學(xué)常數(shù)、均勻性、刻蝕量等

• 薄膜種類：透明及半透明薄膜，常見如氧化物、聚合物甚至空氣

• 薄膜狀態(tài)：固態(tài)、液態(tài)和氣態(tài)薄膜都可以測(cè)量

• 薄膜結(jié)構(gòu)：?jiǎn)螌幽ぁ⒍鄬幽?；平面、曲?/span>

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品常見工業(yè)應(yīng)用：

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x產(chǎn)品參數(shù)：

Filmetrics F40 薄膜厚度測(cè)量?jī)x測(cè)量圖：