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PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀 參考價(jià):面議
PHI nanoTOF II 飛行時(shí)間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù),提供表面分子,元素及其同位素前幾個(gè)原子層的組成圖像。所有元素和同位素,包括氫氣都可以用...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)