荷蘭 INNOVATEST NEMESIS 9000RS洛氏硬度計 參考價：面議
荷蘭 INNOVATEST NEMESIS 9000RS洛氏硬度計是硬度測試解決方案的市場ling導(dǎo)者之一，其產(chǎn)品供應(yīng)范圍涵蓋傳統(tǒng)型到型全系列產(chǎn)品，可以滿足客戶...
荷蘭 INNOVATEST NEXUS 610RSB洛氏硬度計 參考價：面議
荷蘭 INNOVATEST NEXUS 610RSB洛氏硬度計是新一代硬度測試儀器。該系列測試產(chǎn)品的主體為精鑄剛性結(jié)構(gòu)，其中配有稱重傳感器、閉環(huán)力促動器，可以持...
荷蘭 INNOVATEST NEXUS 3000系列布氏硬度計 參考價：面議
荷蘭 INNOVATEST NEXUS 3000系列布氏硬度計品質(zhì)，具有多個光學(xué)測量系統(tǒng)。可以測量30kgf/294.2N - 120kgf/1176N 范圍內(nèi)...
荷蘭 INNOVATEST軼諾FALCON 500維氏硬度計 參考價：面議
荷蘭 INNOVATEST軼諾FALCON 500維氏硬度計*的力促動器系統(tǒng)利用一個電子操控閉環(huán)系統(tǒng)和*的力傳感器技術(shù)，使得無論試驗力為多少，測試結(jié)果都能取得的...
PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀 參考價：面議
PHI nanoTOF II 飛行時間二次離子質(zhì)譜儀是一種表面敏感的技術(shù)，提供表面分子，元素及其同位素前幾個原子層的組成圖像。所有元素和同位素，包括氫氣都可以用...
PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針 參考價：面議
PHI 700Xi 俄歇電子能譜儀掃描俄歇納米探針提供高性能的俄歇（AES）頻譜分析，俄歇成像和濺射深度分析的復(fù)合材料包括：納米材料，催化劑，金屬和電子設(shè)備。維...
賽默飛 MICROLAB 350場發(fā)射俄歇電子譜儀 參考價：面議
賽默飛 MICROLAB 350場發(fā)射俄歇電子譜儀是一款高性能的，具有高靈敏度和高能量分辨率掃描俄歇電子能譜儀（AES）。 SEM分辨率7納米和掃描俄歇映射（S...
PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀 參考價：面議
PHI 5000 Versaprobe II X射線光電子能譜儀是材料科學(xué)和發(fā)展的領(lǐng)域中Z廣泛使用的表面分析技術(shù)。其原理是利用X射線束（一般會使鋁陽極或鎂陽極）...
PHI Quantera II X射線光電子能譜儀 參考價：面議
PHI Quantera II X射線光電子能譜儀是Ulvac-Phi公司以在業(yè)界獲得非常成績的Quantum 2000和Quantera SXM之上延申后所研...
賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀 參考價：面議
賽默飛 EscaLab 250Xi X射線光電子能譜儀是一臺多功能高性能的表面分析儀器，它可以用于研究各種固體材料樣品表面（1-10nm厚度）的元素種類、化學(xué)價...
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀 參考價：面議
日本電子 JXA-8530F 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。 日本電子...
日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀 參考價：面議
日本電子 JXA-8230 電子探針顯微鏡分析儀可以安裝通用性強、使用方便的能譜儀X射線探測器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。日本電子新開...
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡 參考價：面議
布魯克 Dimension FastScan 掃描探針顯微鏡在不損失Dimension? Icon?超高的分辨率和的儀器性能前提下，Z大限度的提高了成像速度。這...
布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡 參考價：面議
布魯克 Dimension Edge 掃描探針顯微鏡的設(shè)計系統(tǒng)能從上到下產(chǎn)生低漂移低偏離數(shù)據(jù)，可以在幾分鐘內(nèi)完成且達到可發(fā)表的數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)，而不再需要幾小時，價格也...
布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡 參考價：面議
布魯克 MultiMode 8 高分辨掃描探針顯微鏡系統(tǒng)的性能源于其緊湊堅固的機械設(shè)計與*的低噪音SPM控制電路。SPM系統(tǒng)性能的優(yōu)劣很大程度取決于樣品與探針之...
FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡 參考價：面議
FEI Titan ETEM G2 透射電子顯微鏡是我們的環(huán)境 TEM 平臺，設(shè)計用來觀測功能性納米材料及其隨著時間的推移對氣體和溫度刺激的響應(yīng)。憑借*的差動泵...
FEI Talos F200系列 場發(fā)射透射電子顯微鏡 參考價：面議
FEI Talos F200系列 場發(fā)射透射電子顯微鏡融合了出色的高分辨率掃描/透射電子顯微鏡 （STEM） 和 TEM 成像功能與的能量色散 X 射線光譜儀 ...
FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡 參考價：面議
FEI SEM Apreo 掃描電子顯微鏡革命性的復(fù)合透鏡設(shè)計結(jié)合了靜電和磁浸沒技術(shù)，可產(chǎn)生*的高分辨率和信號選擇。這使得 Apreo 成為研究納米顆粒、催化劑...
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 EVO MA鎢燈絲掃描電子顯微鏡將鎢燈絲掃描電鏡的發(fā)展帶入了全新的時代，超大樣品室為各類繁雜的樣品以及繁重的工作提供了輕松的解決方案，自動化的5軸樣品臺和...
FEI MagellanTM系列掃描電子顯微鏡 參考價：面議
FEI MagellanTM系列掃描電子顯微鏡讓科學(xué)家和工程師迅速看到以前無法視及的微觀世界： 高靈敏的表面圖像、以及俯視或從其它角度觀看圖像，分辨率可達到一納...
蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 SIGMA高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡采用成熟的GEMINI光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計，分辨率超過0.8nm，為您提供Z高分辨率和Z佳分析性能科研平臺。Sigma500...
蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
蔡司 Gemini SEM場發(fā)射掃描電子顯微鏡二十多年來，基于日漸完善的Gemini技術(shù)，GeminiSEM具有完整高效的檢測系統(tǒng)、*的分辨率以及簡便的操作方式...
FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡 參考價：面議
FEI Nova Nano SEM 場發(fā)射掃描電子顯微鏡該產(chǎn)品是世界上*款可以對有機材料、基板、多孔材料、塑料以及高聚物材料等有電荷積累的樣品和/或污染性樣品進...
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡 參考價：面議
FEI Inspect系列 掃描電子顯微鏡滿足傳統(tǒng)高分辨率樣品研究所需的一切，簡單易用的 InspectTM 專為滿足研究各類材料以及表征材料結(jié)構(gòu)和成分的主流需...(空格分隔,最多3個,單個標(biāo)簽最多10個字符)
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