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日本DENSOKU電渦流膜厚度計(jì)D-20

日本DENSOKU電渦流膜厚度計(jì)D-20

小巧便攜
薄膜厚度計(jì)，可以滿足短時(shí)間測(cè)量的時(shí)代需求

·重量輕，結(jié)構(gòu)緊湊，重量為2.0kg
·一旦開(kāi)關(guān)打開(kāi)，測(cè)量就開(kāi)始，測(cè)量時(shí)間在1秒之內(nèi)。
·晶體振蕩法具有高穩(wěn)定性（±1％）和高精度
·非破壞性，100％檢查是可能的
·由于直接閱讀，無(wú)需轉(zhuǎn)換

渦流膜厚度計(jì)D-20的特點(diǎn)
輕巧緊湊

你可以攜帶它。

可立即測(cè)量

可以在開(kāi)關(guān)打開(kāi)的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)間也在1秒內(nèi)。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

通過(guò)晶體振蕩方法具有高穩(wěn)定性（±1％）和高精度。

可以100％檢查

100％檢查是可能的，因?yàn)樗欠瞧茐男缘摹?/p>

無(wú)需轉(zhuǎn)換

不需要直接轉(zhuǎn)換。

兼容各種測(cè)量

可以在金屬上測(cè)量薄膜，電鍍，涂漆，樹(shù)脂等（例如：在鋁上鍍氧化膜，在鐵上鍍鋅等）。

成為的測(cè)量?jī)x器

只需更換刻度盤(pán)，它就成了的測(cè)量?jī)x器。

測(cè)量面積3m2以上

兼容3m2或更大的測(cè)量區(qū)域。

還測(cè)量非金屬上的金屬膜

可以測(cè)量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

即使在曲面，球體和管道內(nèi)也可以進(jìn)行測(cè)量

即使對(duì)于彎曲和球形表面也可以進(jìn)行測(cè)量。它還可以測(cè)量管道的內(nèi)表面（φ12.7mm或更大）。

測(cè)定原理

當(dāng)已經(jīng)通過(guò)高頻電流的探針（測(cè)量線圈）接近金屬時(shí)，在金屬表面層中產(chǎn)生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率，金屬的導(dǎo)電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。
渦電流流動(dòng)以抵消探頭的高頻磁場(chǎng)，因此探頭的高頻電阻發(fā)生變化。 這種高頻電阻的變化被放大并顯示在儀表上。 通過(guò)這樣做，可以從儀表的波動(dòng)中讀取膜厚度值。 薄膜厚度值和儀表跳動(dòng)通常不成比例，因此使用直讀刻度板直接讀取薄膜厚度值。

日本DENSOKU渦流膜厚度計(jì)DS-110

晶體振蕩精度高
可以在短的測(cè)量時(shí)間內(nèi)測(cè)量曲面和球面

·測(cè)量值顯示數(shù)字且易于閱讀
·一旦開(kāi)關(guān)打開(kāi)，測(cè)量就開(kāi)始，測(cè)量時(shí)間在1秒之內(nèi)。
·晶體振蕩法具有高穩(wěn)定性（±1％）和高精度
·非破壞性，100％檢查是可能的
·由于直接閱讀，無(wú)需轉(zhuǎn)換

渦流膜厚度計(jì)DS-110的特點(diǎn)
易于閱讀數(shù)字

測(cè)量值顯示是數(shù)字的，易于閱讀。

可立即測(cè)量

可以在開(kāi)關(guān)打開(kāi)的同時(shí)進(jìn)行測(cè)量。測(cè)量時(shí)間也在1秒內(nèi)。

高穩(wěn)定性（±1％）高精度

通過(guò)晶體振蕩方法具有高穩(wěn)定性（±1％）和高精度。

可以100％檢查

100％檢查是可能的，因?yàn)樗欠瞧茐男缘摹?/p>

無(wú)需轉(zhuǎn)換

不需要直接轉(zhuǎn)換。

兼容各種測(cè)量

可以測(cè)量金屬上的薄膜，電鍍，涂層，樹(shù)脂等。 （例如：在鋁上鍍鋅，在鐵上鍍鋅等）

多可保存1000個(gè)數(shù)據(jù)

可以使用一條檢測(cè)線保存1000個(gè)數(shù)據(jù)。

還測(cè)量非金屬上的金屬膜

可以測(cè)量非金屬上的金屬薄膜（例如塑料上的鍍層）。

可以測(cè)量4種標(biāo)準(zhǔn)和多70種薄膜厚度。

通過(guò)切換開(kāi)關(guān)，可以測(cè)量多達(dá)4種類型的薄膜厚度。此外，通過(guò)更換制造商處的檢查線，可以測(cè)量超過(guò)70種類型的膜厚度。

即使在曲面，球體和管道內(nèi)也可以進(jìn)行測(cè)量

即使對(duì)于彎曲和球形表面也可以進(jìn)行測(cè)量。它還可以測(cè)量管道的內(nèi)表面（φ12.7mm或更大）。

打印輸出功能

打印出測(cè)量數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)處理值

測(cè)定原理

當(dāng)已經(jīng)通過(guò)高頻電流的探針（測(cè)量線圈）接近金屬時(shí)，在金屬表面層中產(chǎn)生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率，金屬的導(dǎo)電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。
渦電流流動(dòng)以抵消探頭的高頻磁場(chǎng)，因此探頭的高頻電阻發(fā)生變化。 高頻電阻值的這種變化被放大，曲線校正，并顯示為數(shù)字值。 因此，膜厚度值可以直接讀取為數(shù)字。 通過(guò)微計(jì)算機(jī)計(jì)算執(zhí)行曲線校正。 因此，它非常準(zhǔn)確且高度穩(wěn)定

日本DENSOKU渦流膜厚度計(jì)DMC-211

高速和可操作性
短時(shí)非破壞性測(cè)量是100％檢測(cè)的理想選擇

·1秒內(nèi)無(wú)損測(cè)量，100％檢測(cè)*
·使用個(gè)人計(jì)算機(jī)輕松校準(zhǔn)和測(cè)量操作
·只需將探頭放在物體上并釋放它，即可自動(dòng)捕獲測(cè)量值
-70特性曲線（校準(zhǔn)曲線）作為標(biāo)準(zhǔn)
·為每個(gè)渠道注冊(cè)公司名稱，部件號(hào)和批號(hào)。

渦流膜厚度計(jì)DMC-211的特點(diǎn)
數(shù)字顯示測(cè)量值，讀數(shù)

幾乎所有金屬薄膜（鋁上的氧化膜，鐵上的鋅/鉻鍍層等），非金屬上的大多數(shù)金屬薄膜（塑料上的電鍍等）在短時(shí)間內(nèi)（1秒內(nèi)）無(wú)損測(cè)量，非常適合100％檢測(cè)。

使用PC輕松操作

通過(guò)使用個(gè)人計(jì)算機(jī)進(jìn)行校準(zhǔn)和測(cè)量等簡(jiǎn)單操作?？梢赃x擇各種測(cè)量模式，便于測(cè)量螺釘頭，線材和壓鑄產(chǎn)品等小零件。

配備[自動(dòng)導(dǎo)入]模式

在[自動(dòng)采集]模式下，只需將探頭放在待測(cè)物體上并松開(kāi)即可自動(dòng)獲取測(cè)量值。

豐富的特征曲線記憶（校準(zhǔn)曲線）

70個(gè)自動(dòng)選擇特性曲線（校準(zhǔn)曲線）作為標(biāo)準(zhǔn)存儲(chǔ)。對(duì)于特殊材料，如果有標(biāo)準(zhǔn)板，則可以創(chuàng)建并輸入新的特征曲線（校準(zhǔn)曲線）。

公司信息渠道注冊(cè)功能

可以為每個(gè)渠道注冊(cè)公司名稱，部件號(hào)和批號(hào)。
總頻道：40個(gè)頻道

配備統(tǒng)計(jì)處理功能

可以為每個(gè)通道保存測(cè)量數(shù)據(jù)，并且可以在以后統(tǒng)計(jì)設(shè)置和統(tǒng)計(jì)統(tǒng)計(jì)項(xiàng)目。

計(jì)量單位

測(cè)量單位是mm，μm，mil，MI。
可以隨時(shí)更改設(shè)備，并自動(dòng)轉(zhuǎn)換測(cè)量值。

測(cè)定原理

當(dāng)已經(jīng)通過(guò)高頻電流的探針（測(cè)量線圈）接近金屬時(shí)，在金屬表面層中產(chǎn)生渦電流。 該渦電流受到高頻磁場(chǎng)的強(qiáng)度和頻率，金屬的導(dǎo)電性，厚度和形狀的影響，并且穿透深度和尺寸變化。渦電流流動(dòng)以抵消探頭的高頻磁場(chǎng)，因此探頭的高頻電阻發(fā)生變化。 這種高頻電阻變化的幅度通常與薄膜厚度值不成比例，因此它會(huì)根據(jù)內(nèi)部或用戶創(chuàng)建的特性曲線（校準(zhǔn)曲線）轉(zhuǎn)換為薄膜厚度值并顯示在PC屏幕上。顯示量。