方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS) 參考價(jià)：面議
方脈沖熱源法測量系統(tǒng)(SPS)適用于亞毫米級樣品的綜合熱物性測量，能夠同時(shí)測量各向同性材料的熱導(dǎo)率和比熱容、三維各向異性熱導(dǎo)率張量，以及半導(dǎo)體異質(zhì)結(jié)構(gòu)的薄膜熱導(dǎo)...
光腔衰蕩光譜測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光腔衰蕩光譜方法（CRDS， Cavity Ring-Down Spectroscopy）是一種基于高精細(xì)度諧振腔的高靈敏度探測技術(shù)，主要用于精確測量各種反射率...
相位偏折測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
相位偏折測量系統(tǒng)相位偏折術(shù)或條紋反射法，是一種非接觸式、低成本、高魯棒性且高精度的面形測量技術(shù),絕對檢測精度可達(dá)10-20nm RMS,可以用于平面、球面、非球...
光譜透過率測量系統(tǒng) 參考價(jià)：面議
光譜透過率測量系統(tǒng):AUT GPS-200推出的?套光譜透過率測試系統(tǒng)，通過光譜儀與均勻光源組成透過率測量系統(tǒng)，幫助客戶對光學(xué)玻璃、濾光?、膜層、顯示屏（OLE...
光學(xué)視角檢測儀—顯示測量 參考價(jià)：面議
光學(xué)視角檢測儀—顯示測量，ELDIM制造基于傅里葉光學(xué)的光學(xué)視角檢測儀已經(jīng)超過25年了。基于*的光學(xué)設(shè)計(jì)，可以控制系統(tǒng)的角孔徑與測量光斑大小相獨(dú)立，可以實(shí)現(xiàn)非常...
Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) （單點(diǎn)測量） 參考價(jià)：面議
Mprobe 20 薄膜測量系統(tǒng) （單點(diǎn)測量）是一款桌面式單點(diǎn)薄膜厚度測量系統(tǒng)，只需點(diǎn)擊鼠標(biāo)薄膜厚度和折射率測量，測量厚度范圍1nm-1mm.(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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