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手持式微波綜合測(cè)試儀(1MHz~20GHz) 參考價(jià):面議
手持式微波綜合測(cè)試儀(1MHz~20GHz)頻率范圍可達(dá)1MHz~20GHz,集電纜和天線駐波比測(cè)試、不連續(xù)點(diǎn)故障定位測(cè)試、插入損耗和增益測(cè)試、頻譜分析、功率測(cè)...多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
多端口光器件IL、PDL波長(zhǎng)掃描快速測(cè)試系統(tǒng)由可調(diào)諧激光源、高速光功率計(jì)平臺(tái)組成,配合集成了相關(guān)算法的上位機(jī)軟件,可以快速完成光器件不同波長(zhǎng)下的 IL(插入損耗...Phasics大口徑激光測(cè)試解決方案-KALAS系統(tǒng) 參考價(jià):面議
Phasics大口徑激光測(cè)試解決方案-KALAS系統(tǒng),高分辨率(512×512)、寬波段(可見光至短波紅外)及閉環(huán)控制能力,已應(yīng)用于激光聚變和自適應(yīng)光學(xué)系統(tǒng)。壓電馬達(dá)XY兩軸位移臺(tái),顯微鏡載物臺(tái) 參考價(jià):面議
壓電馬達(dá)XY兩軸位移臺(tái),顯微鏡載物臺(tái)小尺寸設(shè)計(jì)使其易于與 OEM 集成。可選配 M6 面包板插件和其他多種插件。高精度變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀(70-730K) 參考價(jià):面議
高精度變溫霍爾效應(yīng)測(cè)試儀(70-730K)利用范德堡測(cè)量技術(shù)對(duì)半導(dǎo)體材料的電阻率、載流子濃度、磁致電阻率、霍爾系數(shù)、電子遷移率等進(jìn)行測(cè)量,用來表征和了解材料的物...Micro-LED晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng) 參考價(jià):面議
Micro-LED晶圓臺(tái)測(cè)試系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)了對(duì)M-LED的綜合光電性能測(cè)試,是Micro-LED/Mini-LED企業(yè)研發(fā)、實(shí)驗(yàn)的檢測(cè)設(shè)備。紅外光學(xué)測(cè)試臺(tái) 參考價(jià):面議
Kaleo IR系列紅外光學(xué)測(cè)試臺(tái)光路結(jié)構(gòu):?jiǎn)瓮?雙通路 - 共軸/離軸 - 無限遠(yuǎn)有限遠(yuǎn) - 無限遠(yuǎn)無限遠(yuǎn) - 有限遠(yuǎn)有限遠(yuǎn)(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)