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6太陽(yáng)能組件PL成像系統(tǒng)集成了多種創(chuàng)新功能
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更新提醒！kSA BandiT軟件最新版本已發(fā)布
尊敬的kSA BandiT用戶，如果您正在使用Riber的Crystal XE，我們建議您將BandiT軟件升級(jí)到最新版本。BandiT的最新版本可以在Crystal XE（Riber的MBE控制軟件）中實(shí)時(shí)查看和記錄BandiT結(jié)果，以及其他相關(guān)信息。這種集成與通訊允許Crystal XE快速訪問(wèn)kSA BandiT提供的各種晶片溫度測(cè)量參數(shù)，如需升級(jí)請(qǐng)聯(lián)系我們。
kSA BandiT實(shí)時(shí)襯底溫度測(cè)試儀 是一種非接觸、實(shí)時(shí)測(cè)量半導(dǎo)體襯底表面溫度的測(cè)試系統(tǒng)，采用半導(dǎo)體材料吸收邊隨溫度的變化的原理，實(shí)時(shí)測(cè)量晶片/襯底的溫度。