目錄:上海波銘科學儀器有限公司>>電學測試儀表>>半導體參數(shù)分析儀>> 半導體器件參數(shù)分析儀/表征系統(tǒng)主機
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領(lǐng)域 | 綜合 |
加快基本的電流-電壓（IV）和電容-電壓（CV）測量以及業(yè)界較好的超快速 IV 器件表征
綜合解決方案滿足您的所有器件表征需求：
將多種測量和分析功能整合到一臺儀器中，可精確快速地進行器件表征。它是目前一個能夠提供廣泛的器件表征功能以及超出色測量可靠性和可重復性的多功能參數(shù)分析儀。它能夠執(zhí)行從基本的電流 – 電壓（IV）和電容 – 電壓（CV）表征到快速、精準的脈沖 IV 測試的全部方位測量。此外，B1500A 的 10 槽模塊化體系結(jié)構(gòu)使您可以添加或升級測量模塊，適應不斷變化的測量需求。
| 關(guān)鍵特性 | 優(yōu)勢 |
| 精密電壓和電流測量 （0.5 µV 和 0.1 fA 分辨率） | – 低電壓和小電流的精確表征。 |
| 用于多頻率（1kHz 至 5 MHz）電容測量 （CV 、C-f 和 C-t）與電流/電壓（IV）測量 切換的高精度和低成本解決方案。 | – 無需重新連接電纜即可在 CV 和IV 測量之間進行切換 – 保持出色的小電流測量分辨率 （使用 SCUU 時最小為 1 fA，使用 ASU 時最小為 0.1 fA） – 為被測器件提供完整的 CV 補償輸出 |
| 超快速 IV 測量， 100 ns 脈沖和 5 ns 采樣率 | – 捕獲傳統(tǒng)測試儀器無法精確測量的超快速瞬態(tài)現(xiàn)象 |
| 超過 300 種應用測試即時可用 | – 縮短從學習儀器使用、進行測量到熟練操作儀器所需的時間 |
| 包含示波器視圖的曲線追蹤儀模式 | – 交互式地開發(fā)測試，并即時查看器件特征 – 無需使用任何其他設(shè)備便可對電流和電壓脈沖進行驗證 （MCSMU 提供示波器視圖） |
| 功能強大的數(shù)據(jù)分析和穩(wěn)定可靠的數(shù)據(jù) 管理 | – 自動分析測量數(shù)據(jù)，無需使用外部 PC – 自動存儲測量數(shù)據(jù)和測試條件，日后快速調(diào)用此信息 |
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