日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊

1. 標(biāo)準(zhǔn)試塊

標(biāo)準(zhǔn)試塊簡(jiǎn)稱STB試塊，通常由國(guó)際有關(guān)組織，國(guó)家和工業(yè)部的技術(shù)部門(mén)、標(biāo)準(zhǔn)化組織推薦、確定和通過(guò)使用的。它們可作為探傷儀、探頭性能的測(cè)定；探傷靈敏度和時(shí)間軸比例等的調(diào)整，以及缺陷尺寸的評(píng)價(jià)。但某一種試塊不一定都具備這些功能，而是隨應(yīng)用對(duì)象不同而有所側(cè)重，它們常常在使用目的相同的檢查之間通用，其材質(zhì)、形狀、尺寸及使用性能也均已達(dá)到了標(biāo)準(zhǔn)化程度。例如，國(guó)際上通用的標(biāo)準(zhǔn)試塊有IIW試塊、IIW2試塊等，我國(guó)的CS–1，CS–2，CSK–IA，CSK–IB，CSK–IC（如圖2–34），日本的STB–G系列試塊，美國(guó)的ASTM和ASME的標(biāo)準(zhǔn)試塊，英國(guó)的BS–A2，BS–A4試塊，西德DIN54120中的1#試塊等等均屬此列，其中有些試塊可用于制作距離–波幅曲線或面積–波幅曲線。

標(biāo)準(zhǔn)試塊標(biāo)準(zhǔn)試塊通常是由機(jī)構(gòu)制定的試塊，其特性與制作要求有專門(mén)的標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定。 標(biāo)準(zhǔn)試塊通常具有規(guī)定的材質(zhì)、形狀、尺寸及表面狀態(tài)。 標(biāo)準(zhǔn)試塊用于儀器探頭系統(tǒng)性能測(cè)試校準(zhǔn)和檢測(cè)校準(zhǔn)，

型號(hào)：JIS-STB-A1、JIS-STB-A2、JIS-STB-A3、JIS-STB-G、STB-A21、STB-A22、JIS-STB-A1(與IW試塊相同)

JIS-STB-A2(用單探頭或雙探頭法進(jìn)行斜角探傷時(shí)，用于探傷靈敏度的調(diào)整或表示。也可用于探傷儀的綜合分辨力的測(cè)定和表示)。

JIS-STB-A3(作為A1和A2試塊現(xiàn)場(chǎng)用的輔助標(biāo)準(zhǔn)試塊，可用于入射點(diǎn)的確定、時(shí)間軸的調(diào)整、時(shí)間軸原點(diǎn)的修正、折射角和探傷靈敏度的確定）

JIS-STB-G(用于各種調(diào)整, min探傷距離的檢定等)。

V2~V8都加工有∮2平底孔，和V15-2-樣用于2~15mm探傷距離下的靈敏度特性試驗(yàn)，反射脈沖高度在規(guī)定值t1db以內(nèi)。V15-1～V15-5.6鉆有p1.0~∮5.6mm平底孔，相鄰孔底的西積比依次為2倍。即用于探傷靈敏度的調(diào)整。

日本標(biāo)準(zhǔn)試塊超聲波探傷試塊