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掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT）） 參考價(jià)：面議
掃描開爾文探針(分辨率20um)|材料表面分析（顯微OCT））掃描開爾文探頭可以測(cè)量 CPD（接觸電位差）值，評(píng)估半導(dǎo)體和導(dǎo)電材料的功函數(shù)。測(cè)量不僅可以在樣品表...
多光子顯微鏡（OCT掃頻測(cè)振） 參考價(jià)：面議
多光子顯微鏡（OCT掃頻測(cè)振）具備深層穿透能力且高靈敏度的體內(nèi)成像顯微鏡產(chǎn)品特點(diǎn)廣角采集功能，可在散射樣本深處實(shí)現(xiàn)更高的信噪比模塊化選項(xiàng)，支持光遺傳學(xué)、高速掃描...
EVOS M5000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
EVOS M5000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）EVOS M5000 成像系統(tǒng)是一款數(shù)字倒置顯微鏡，適用于四色熒光、透射光和彩色成像。
EVOS M3000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
EVOS M3000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）EVOS M3000 成像系統(tǒng)是一款數(shù)字倒置顯微鏡，適用于雙色熒光成像、透射光成像及彩色成像。
EVOS M7000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克爾） 參考價(jià)：面議
EVOS M7000 成像系統(tǒng)（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克爾）EVOS M7000 成像系統(tǒng)是一款自動(dòng)化數(shù)字倒置顯微鏡，適用于四色熒光、透射光和彩色成像。
垂直磁各向異性評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-R810( 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾) 參考價(jià)：面議
垂直磁各向異性評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-R810( 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾)產(chǎn)品總覽在固定磁場(chǎng)方向下具有旋轉(zhuǎn)樣品架的角度依賴性分析系統(tǒng)。
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAM/RTAMR評(píng)估系統(tǒng)( 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾) 參考價(jià)：面議
熱輔助磁記錄介質(zhì)的非接觸HAM/RTAMR評(píng)估系統(tǒng)( 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾)產(chǎn)品總覽產(chǎn)生磁場(chǎng)±6.5T的熱（Thermal）輔助磁記錄介質(zhì)（HAMR或TAMR...
軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾） 參考價(jià)：面議
軟磁層評(píng)價(jià)系統(tǒng) BH-618HS-P20（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽軟磁層的非接觸式評(píng)估系統(tǒng)，例如具有映射和傾斜角測(cè)量功能的硬盤介質(zhì)中的 SUL。
垂直磁記錄介質(zhì)評(píng)價(jià)體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾） 參考價(jià)：面議
垂直磁記錄介質(zhì)評(píng)價(jià)體系 BH-810CPC（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽具有映射評(píng)估功能的硬盤垂直記錄介質(zhì)（PMR）非接觸評(píng)估系統(tǒng)。
微型克爾環(huán)路測(cè)量系統(tǒng) BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾） 參考價(jià)：面議
微型克爾環(huán)路測(cè)量系統(tǒng) BH-PI920 系列（ 顯微鏡/測(cè)振/磁光克爾）產(chǎn)品總覽基于二極管激光器的克爾環(huán)路測(cè)量系統(tǒng)?？蛇M(jìn)行幾微米尺度的顯微局部測(cè)量。
克爾環(huán)路測(cè)量和域觀測(cè)系統(tǒng) BH-1071（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
克爾環(huán)路測(cè)量和域觀測(cè)系統(tǒng) BH-1071（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）用于動(dòng)態(tài)（實(shí)時(shí)）磁疇觀測(cè)和顯微克爾環(huán)測(cè)量的組合系統(tǒng)。
基于激光GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
基于激光GHz聲波振動(dòng)觀測(cè)系統(tǒng) 500MHz～6GHz（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）基于激光的觀測(cè)系統(tǒng)，專門設(shè)計(jì)用于顯示基于電介質(zhì)/壓電的高頻設(shè)備的表面聲波 s...
用于晶圓的縱向克爾效應(yīng)量測(cè)系統(tǒng) BH-618SK（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
用于晶圓的縱向克爾效應(yīng)量測(cè)系統(tǒng) BH-618SK（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）用于8英寸或12英寸晶圓的硬盤磁頭和磁傳感器目標(biāo)映射測(cè)量的非接觸式評(píng)估系統(tǒng)。
用于晶圓的極向克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克） 參考價(jià)：面議
用于晶圓的極向克爾效應(yīng)測(cè)量系統(tǒng) BH-810CPC25（顯微OCT掃頻測(cè)振/磁光克）用于磁性半導(dǎo)體的 8 英寸或 12 英寸晶圓目標(biāo)映射測(cè)量的非接觸式評(píng)估系統(tǒng)。
FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡（顯微OCT掃頻測(cè)振） 參考價(jià)：面議
FS70L4 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡（顯微OCT掃頻測(cè)振）特點(diǎn)采用Mitutoyo遠(yuǎn)場(chǎng)校正鏡頭三端輸出設(shè)計(jì)可輕松接收視頻轉(zhuǎn)盤可接最多四個(gè)物鏡
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像) （顯微OCT 參考價(jià)：面議
極紫外和軟x射線輻射EUV顯微鏡 (Metrology計(jì)量學(xué) 無損亞納米級(jí)次表面成像) （顯微OCT掃頻測(cè)振）產(chǎn)品總覽三維無損成像技術(shù)在材料科學(xué)和醫(yī)學(xué)等許多應(yīng)用...
FS70L-TH 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 參考價(jià)：面議
FS70L-TH 用于半導(dǎo)體檢測(cè)顯微鏡 (1X管鏡頭 TV接口激光) 特點(diǎn)采用Mitutoyo遠(yuǎn)場(chǎng)校正鏡頭三端輸出設(shè)計(jì)可輕松接收視頻轉(zhuǎn)盤可接最多四個(gè)物鏡(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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