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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM，能量色散X射線熒光光譜儀，自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量，采用ISO 3497和ASTM B ...

X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 ，通用手持式X射線熒光分析儀，即使材料組合困難復雜的情況下，也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料...

FISCHERSCOPE X-RAY XAN，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線...

菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM，根據(jù)DIN ISO 3497和ASTM B 568，用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度

Fischer涂層測厚儀DMP30，DMP10-40 系列測量儀器是在磁性和非磁性基材上快速、無損地測量涂鍍層厚度的解決方案。 這些緊湊型儀器主要用于質量保證，...

DMP20，在非磁性金屬基材上測量不導電涂層的厚度，在鐵磁性金屬基材上測量非鐵磁性涂鍍層的厚度。

DMP10，DMP 系列的便攜性、功能使其具有足夠的通用性，可用于廣泛的應用。這些靈活的設備是接觸式和非破壞性測量鐵基材和有色金屬基材上涂層厚度的解決方案。

FISCHER DMP10測厚儀，存儲容量：2500批次，250000個測量值（DMP30/40）或1批次，10000個測量值（DMP10/20）。堅固的鋁制外...

菲希爾Fischer代理漆膜儀，DUALSCOPE FMP20涂層測厚儀且具有自動識別基材的功能，這臺通用型儀器可以測量鐵/鋼上、非磁性金屬基材上和非導電基材上...

菲希爾涂層測厚儀MP0，DUALSCOPE MP0涂層測厚儀采用根據(jù)DIN EN ISO 2360，ASTM B244標準的電渦流方法和DIN EN ISO 2...

菲希爾FGAB1.3，DeltaScope FMP10是一款經濟實用型的測厚儀，標準配置配磁感應探頭Probe FGAB1.3。

Fischerscope X-RAY，F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDL 210比例接收器能實現(xiàn)高計數(shù)率，這樣就可以進行高精度測量。由于采用了Fisc...

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Deltascope DMP10菲希爾磁感應測厚儀，這些靈活的設備是接觸式和非破壞性測量鐵基材和有色金屬基材上涂層厚度的解決方案。為此，我們有適合您需求的型號選...