鍍層測厚儀高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測 RoHS 返回列表頁

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產(chǎn)品型號鍍層測厚T-450plus

品牌佳譜儀器

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所在地蘇州市

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更新時間：2026-01-21 12:02:51瀏覽次數(shù)：242次

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鍍層測厚儀系列產(chǎn)品: REACH指令 ROHS指令分析 X熒光光譜儀 DPP數(shù)字多道分析涂鍍層分析電鍍液檢測多功能XRF 高性能膜厚儀 T-300V下照式鍍層測厚儀實用型多功能XRFT350plus T300-V下照式鍍層測厚儀 T300V-下照式鍍層測厚儀 plus系列高性能多用型XRF 全自動性能膜厚儀物理特性分析物理特性分析儀器 > 測厚儀測厚儀 > 鍍層測厚儀分析儀器 X射線熒光光譜儀(XRF) 金屬多元素分析儀 T450專精性能膜厚 T450plus系列高性能多用型實用型多功能XRF T350plus T300V下照式鍍層測厚儀 T450plus系列高性能多

產(chǎn)品簡介

價格區(qū)間	面議	行業(yè)專用類型	通用
儀器種類	臺式/落地式	應(yīng)用領(lǐng)域	環(huán)保,化工,地礦,電子/電池,綜合

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供性能的儀器選擇。鍍層測厚儀高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測 RoHS

鍍層測厚儀高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測 RoHS

T450plus系列高性能多用型XRF

鍍層測厚儀高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測 RoHS

涂鍍層分析

RoHS檢測

元素分析

T450plus系列為滿足生產(chǎn)管控和研發(fā)領(lǐng)域中高精度鍍層厚度或精確材料成分分析而研制的一款多用型X熒光光譜儀，可為任何應(yīng)用提供性能的儀器選擇。

該系列儀器采用微聚焦增強型射線管和數(shù)字多道脈沖信號處理技術(shù)，同時搭載增強FP算法軟件與變焦裝置，再加上高性能大面積探測器，無論在檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，還是RoHS和元素分析方面，均具備出色的重復(fù)精度，這也是它廣受客戶、研究所等機構(gòu)歡迎的原因。

技術(shù)參數(shù)

性能優(yōu)勢

高穩(wěn)定微聚焦集成系統(tǒng)	采用自主研發(fā)設(shè)計的高穩(wěn)定性微聚焦增強型射線管和聚焦光路系統(tǒng)，最小測量點可達(dá)0.25mm。
搭載高性能探測器	分辨率至129eV±5eV，能量線性和能量分辨率俱佳，具有更高的穩(wěn)定性和精度。
高精度	含量檢出限可達(dá)1ppm，厚度檢出限可達(dá)1nm。
變焦補償算法	可對各種異形凹槽件進(jìn)行無損檢測，凹槽深度范圍 0-25mm。
使用壽命長	采用自主研發(fā)的多維散熱系統(tǒng)，同時同樣的測試面積功率更低，整機與射線管使用壽命更長。

應(yīng)用領(lǐng)域

快速分析	智能體驗		超高精度
穩(wěn)定性高		功能強大

鍍層測厚儀高性能Si-Pin半導(dǎo)體探測 RoHS

環(huán)保檢測解決方案