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布局形式	立式	電機(jī)功率	411?16kW
動力類型	電動	攪拌方式	自落式
類型	真空	料桶容量	16 ?L
每次處理量范圍	出料1000-3000L	生產(chǎn)能力	16 ?L
轉(zhuǎn)速范圍	十三 ?r/min

otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測量裝置

這款延遲測量裝置兼容所有類型的薄膜，包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及帶有IPS LCD相位差膜的偏光片。

它可實(shí)現(xiàn)高速、高精度測量，并兼容超高Re值（60,000 nm）。

該裝置能夠“無損地測量"薄膜的層壓狀態(tài)，無需剝離薄膜。

此外，它還配備了易于使用的軟件和校正功能，可以處理因重新定位樣品而導(dǎo)致的偏差，從而實(shí)現(xiàn)簡便、高精度的測量。

產(chǎn)品信息

特征

得益于我們獨(dú)特的光譜儀，可以進(jìn)行高精度測量。

■ 高精度

通過多波長測量實(shí)現(xiàn)高精度

<高精度原因>?采用

獨(dú)特的高性能多通道光譜儀

?可獲得大量透射率信息，從而實(shí)現(xiàn)高精度測量

（可獲得約 500 個波長的透射率信息，約為其他公司產(chǎn)品的 50 倍）

■ 測量范圍寬廣（延遲范圍：0 至 60,000 nm）

■ 理解延遲波長色散形狀

超高延遲測量——超雙折射薄膜的高速、高精度測量——

■ 高延遲

多層測量——無需剝離即可無損測量各種薄膜的層壓狀態(tài)——

軸角校正功能 - 即使樣品未對準(zhǔn)，也能輕松、可重復(fù)地進(jìn)行測量 -

■ 將樣品重新定位 10 次，并比較有無角度校正兩種情況下的結(jié)果。

[樣品：R85 緩釋膜]

易于使用的軟件——顯著縮短測量和處理時間，顯著提高操作性。

規(guī)格

模型 RETS-100nx 型遲滯測量裝置

測量項(xiàng)目（膠片、光學(xué)材料）延遲（波長色散）、慢軸、Rth *1、三維折射率*1等。

測量項(xiàng)目（偏光片）吸收軸、偏振度、消光比、各種色度、各種透射率等。

測量項(xiàng)目（液晶盒）細(xì)胞間隙、預(yù)傾角*1、扭轉(zhuǎn)角、取向角等。

延遲測量范圍 0 至 60,000 納米

延遲重復(fù)性 3σ≦0.08nm（晶體波片約600nm）

電池間隙測量范圍 0 至 600μm（當(dāng) Δn=0.1 時）

細(xì)胞間隙重復(fù)性 3σ≦0.005μm（電池間隙約3μm，Δn=0.1）

軸檢測重復(fù)性 3σ≦0.08°（晶體波片，波長約600nm）

測量波長范圍 400至800納米（另有其他選項(xiàng)）

探測器多通道光譜儀

測量直徑 φ2mm（標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格）

光源 100瓦鹵素?zé)?/p>

數(shù)據(jù)處理部分個人電腦，顯示器

舞臺尺寸：標(biāo)準(zhǔn) 100mm x 100mm（固定平臺）

選項(xiàng) ?超高延遲測量

?多層測量

?軸角校正功能

?自動XY平臺

?自動傾斜旋轉(zhuǎn)平臺

*1 需要自動傾斜和旋轉(zhuǎn)平臺（可選）

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