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otsuka大塚電子 高速減速測(cè)量裝置 RE-200RE-200是什么?RE-200 將由光子晶體元件(偏振元件)和 CCD 相機(jī)組成的偏振測(cè)量模塊與透射式偏振...
otsuka大塚電子 LE -5400 高速光譜分析儀該設(shè)備可通過與生產(chǎn)線控制信號(hào)同步,高速在線評(píng)估LED的光學(xué)特性。LE-5400提供質(zhì)量控制所需的光學(xué)特性信...
otsuka大塚電子 QE-2100 量子效率測(cè)量器 可即時(shí)測(cè)量絕對(duì)量子效率(絕對(duì)量子產(chǎn)率)。兼容粉末、溶液、固體(薄膜)和薄膜樣品。低雜散光多通道光譜檢測(cè)器顯...
otsuka大塚電子 IL100 光譜輻照度測(cè)量器IL100光譜輻照度測(cè)量系統(tǒng)用于評(píng)估光源的輻照度。它通過光譜輻照度測(cè)量實(shí)現(xiàn)高精度輻照度測(cè)量,測(cè)量波長(zhǎng)范圍寬廣,...
otsuka大塚電子 FE-5000 多功能光譜橢偏儀除了能夠進(jìn)行高精度薄膜分析的光譜橢偏儀之外,該系統(tǒng)還配備了自動(dòng)可變測(cè)量角度機(jī)構(gòu),使其適用于所有類型的薄膜。...
otsuka大塚電子 RETS-100nx 延遲測(cè)量裝置這款延遲測(cè)量裝置兼容所有類型的薄膜,包括OLED偏光片、層壓相位差膜以及帶有IPS LCD相位差膜的偏光...
otsuka大塚電子 OPTM-A3 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測(cè)量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...
otsuka大塚電子 OPTM-A2 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測(cè)量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...
otsuka大塚電子 OPTM-A1 顯微薄膜厚度計(jì)OP?(Optimum)是一款利用顯微光譜技術(shù)測(cè)量微觀區(qū)域絕對(duì)反射率的儀器,能夠高精度地分析薄膜厚度和光學(xué)常...
otsuka大塚電子 MINUK 3D 光波場(chǎng)三維顯微鏡特征02可采集1400微米深度范圍內(nèi)的所有信息,并可沿任意高度進(jìn)行切片。單次測(cè)量即可獲取相當(dāng)于數(shù)千張圖像...
otsuka大塚電子 GP-2000 光譜光分布器支持有機(jī)發(fā)光二極管和大型顯示器的光分布測(cè)量通過自動(dòng)控制雙軸測(cè)角儀,可以測(cè)量每個(gè)角度的光譜分布,并利用球面系數(shù)法...
otsuka大塚電子 GP-1100 光譜光分布設(shè)備 這是一個(gè)用于測(cè)量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀,可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量!?可同時(shí)進(jìn)行顏色測(cè)量和...
otsuka大塚電子 光譜光分布測(cè)量器 GP-500這是一個(gè)用于測(cè)量照明燈具光分布特性的設(shè)備。?采用自主研發(fā)的光譜儀,可實(shí)現(xiàn)高精度測(cè)量!?可同時(shí)進(jìn)行顏色測(cè)量和光...
otsuka大塚電子 SM-100S 智能涂層測(cè)厚儀 高精度便攜式薄膜測(cè)厚儀“我想測(cè)的時(shí)候不能立即測(cè)量"、 您在測(cè)量薄膜厚度時(shí)是否遇到過這些問題?這款智能薄膜測(cè)...
otsuka大塚電子 SM-100P 智能涂層測(cè)厚儀 測(cè)量目標(biāo) ?光學(xué)薄膜 ?涂層薄膜 (防反射薄膜、粘合層等) ?半導(dǎo)體(氧化膜、光刻膠膜等) ?各種薄膜 (...
otsuka大塚電子 FE-300F 薄膜厚度監(jiān)測(cè)儀這是一款小巧、低成本的薄膜厚度計(jì),采用光學(xué)干涉法測(cè)量薄膜厚度,精度高,操作簡(jiǎn)便。一體式外殼將所有必要的組件集...
otsuka大塚電子 MCPD-6800 多通道光譜儀MCPD-6800 是一款基礎(chǔ)光譜測(cè)量與分析系統(tǒng)。它能夠即時(shí)測(cè)量光譜,其可自由配置的測(cè)量光學(xué)系統(tǒng)和豐富的選...
otsuka大塚電子 MCPD-9800 多通道光譜儀這是一款多功能多通道光譜檢測(cè)器,覆蓋紫外到近紅外波段。它可在短短 5 毫秒內(nèi)完成光譜測(cè)量。
otsuka大塚電子 SF-3/1300 高速光譜測(cè)厚儀該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時(shí)、高精度非接觸式測(cè)量晶圓和樹脂。
otsuka大塚電子 SF-3/800 超高速光譜干涉式該設(shè)備可在研磨和拋光過程中以超高速、實(shí)時(shí)、高精度非接觸式測(cè)量晶圓和樹脂。
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