冷熱探針臺測試儀 參考價(jià)：28000
冷熱探針臺測試儀，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用于材料分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測試、物理研究、氣敏分析、鋰電池測試、LED、LCD...
半導(dǎo)體冷熱探針臺 參考價(jià)：面議
半導(dǎo)體冷熱探針臺，用于芯片、氣敏元器件等在不同氣氛環(huán)境下電學(xué)性能，也可用變溫光學(xué)測試、變溫電學(xué)測試、材料表征等分析。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體電學(xué)性能測試、物理研究、氣敏...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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